- Nazwa przedmiotu:
- Elementy elektroniczne
- Koordynator przedmiotu:
- prof. nzw. dr hab. Lidia Łukasiak
- Status przedmiotu:
- Obowiązkowy
- Poziom kształcenia:
- Studia I stopnia
- Program:
- Zarządzanie i Inżynieria Produkcji
- Grupa przedmiotów:
- Technologie Elektroniczne
- Kod przedmiotu:
- ELEME
- Semestr nominalny:
- 2 / rok ak. 2012/2013
- Liczba punktów ECTS:
- 3
- Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
- godziny kontaktowe 41 h
przygotowanie do laboratorium 10 h
przygotowanie do zaliczenia przedmiotu 20 h
- Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
- Język prowadzenia zajęć:
- polski
- Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
- Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
-
- Wykład30h
- Ćwiczenia0h
- Laboratorium0h
- Projekt0h
- Lekcje komputerowe0h
- Wymagania wstępne:
- brak
- Limit liczby studentów:
- -
- Cel przedmiotu:
- Zrozumienie zasady działania i przebiegu charakterystyk elektrycznych podstawowych elementów elektronicznych
- Treści kształcenia:
- Wykład
Materiały półprzewodnikowe – podstawowe właściwości: model pasmowy, koncentracje nośników ładunku, mechanizmy transportu, porównanie krzemu oraz innych materiałów (np. GaAs, GaN, SiC, SiGe)
Złącze p-n i diody półprzewodnikowe: Praca statyczna: charakterystyka prądowo-napięciowa. Praca małosygnałowa: małosygnałowy schemat zastępczy, konduktancja dynamiczna, pojemność warstwy zaporowej, pojemność dyfuzyjna. Praca wielkosygnałowa: charakterystyki czasowe. Styk metal-półprzewodnik (kontakt omowy, dioda z barierą Schottky’ego). Rodzaje diod.
Tranzystory bipolarne: Wiadomości wstępne: struktura fizyczna, rola poszczególnych obszarów, zasada działania, układy pracy, stany pracy. Praca statyczna: model Ebersa-Molla, charakterystyki statyczne. Praca małosygnałowa: małosygnałowy schemat zastępczy, częstotliwości graniczne. Praca wielkosygnałowa: charakterystyki czasowe. Tranzystor bipolarny heterozłączowy – charakterystyki elektryczne i parametry użytkowe, porównanie z klasycznym tranzystorem bipolarnym. Tranzystor bipolarny w elementarnym układzie wzmacniacza: zasady polaryzacji tranzystora, zasada wzmacniania.
Kondensator MOS: struktura fizyczna, elektrostatyka kondensatora: stany powierzchni półprzewodnika, potencjał powierzchniowy, napięcie płaskich pasm i napięcie progowe, charakterystyki pojemnościowo-napięciowe.
Tranzystor MOS: Wiadomości wstępne: struktura fizyczna, rola poszczególnych obszarów, zasada działania. Praca statyczna: napięcie progowe, efekty II rzędu, charakterystyki statyczne. Praca małosygnałowa: małosygnałowy schemat zastępczy, parametry dynamiczne, szybkość działania. Praca wielkosygnałowa: inwerter CMOS. Reguły skalowania i ich konsekwencje. Tranzystor MOS SOI: klasyfikacja, charakterystyki elektryczne, porównanie z klasycznym tranzystorem MOS. Wielobramkowe tranzystory MOS. Architektura kanału zaawansowanych tranzystorów MOS (krzem naprężony, SiGe).
Inne tranzystory unipolarne: ze złączem p-n, z barierą Schottky’ego, tranzystor HEMT. Struktura fizyczna, rola poszczególnych obszarów, zasada działania, charakterystyki statyczne, zastosowania.
Półprzewodnikowe przyrządy mocy: Tranzystor mocy: bipolarny i MOS. Tyrystor. Nowoczesne konstrukcje półprzewodnikowych przyrządów mocy. Nowe materiały dla przyrządów mocy (SiC, GaN).
Ćwiczenia laboratoryjne
1) Złącze p-n – pomiar charakterystyki C-V (wyzmaczanie grubości warstwy zaporowej, koncentracji domieszek, budowa modelu pasmowego)
2) Dioda – charakterystyki I-U dla diod róznego typu i zbudowanych z różnych materiałów
3) Tranzystor bipolarny – charakterystyki statyczne w połączeniu wspólnego emitera, częstotliwości graniczne, parametry małosygnałowe
4) Tranzystor MOS – charakterystyki statyczne, wyznaczanie napięcia progowego, parametry małosygnałowe, symulacja wpływu parametrów konstrukcyjnych na charakterystyki prądowo-napięciowe
- Metody oceny:
- Ocena końcowa jest średnią ważoną (współczynnik ½) egzaminu oraz udziału w ćwiczeniach laboratoryjnych.
- Egzamin:
- tak
- Literatura:
- [1] W. Marciniak, „Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone”, WNT, W-wa 1987.
[2] P. Jagodziński, A. Jakubowski, „Zasady działania przyrządów półprzewodnikowych typu MIS”, WPW 1980.
[3] M.Polowczyk, E.Klugmann, Przyrządy Półprzewodnikowe", Wyd.PG, 2001
[4] J. Hennel, „Podstawy elektroniki półprzewodnikowej”, WNT Warszawa 2003
[5] S.M. Sze, Kwok K. Ng, "Physics of Semiconductor Devices", 3 ed., Wiley, 3 ed.,
2006
- Witryna www przedmiotu:
- -
- Uwagi:
Efekty uczenia się
Profil ogólnoakademicki - wiedza
- Efekt Wpisz opis
- • ma elementarną wiedzę w zakresie fizyki półprzewodników • ma elementarną wiedzę w zakresie działania elementów elektronicznych, przebiegu charakterystyk elektrycznych oraz ich opisu matematycznego • ma elementarną wiedzę w zakresie tendencji rozwojowych elementów elektronicznych
Weryfikacja: Egzamin pisemny
Powiązane efekty kierunkowe:
K_W02, K_W42, K_W46
Powiązane efekty obszarowe:
T1A_W01, T1A_W03, T1A_W05
Profil ogólnoakademicki - umiejętności
- Efekt Wpisz opis
- • potrafi zastosować poznane modele i metody do rozwiązywania prostych zadań dotyczących elementów elektronicznych • potrafi przeprowadzić pomiary typowych charakterystyk elektrycznych elementów elektronicznych i wyznaczyć podstawowe parametry tych elementów • ma umiejętność samokształcenia się
Weryfikacja: Egzamin pisemny
Powiązane efekty kierunkowe:
k_U07, k_U51, k_U55
Powiązane efekty obszarowe:
T1A_U05, T1A_U09, T1A_U15
Profil ogólnoakademicki - kompetencje społeczne
- Efekt Wpisz opis
- • potrafi pracować w zespole
Weryfikacja: Wpisz opis
Powiązane efekty kierunkowe:
K_K06
Powiązane efekty obszarowe:
T1A_K05