Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Zaawansowane Metody Badania Materiałów - laboratorium
Koordynator przedmiotu:
Dr inż. Elżbieta Jezierska /adiunkt
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Inżynieria Materiałowa
Grupa przedmiotów:
Wspólna
Kod przedmiotu:
Semestr nominalny:
2 / rok ak. 2009/2010
Liczba punktów ECTS:
2
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład0h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium30h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wymagane przedmioty poprzedzające : Fizyka, Fizyka Ciała Stałego, Podstawy Nauki o Materiałach, Metody Badania Materiałów, Zaawansowane Metody Badania Materiałów-wykład
Limit liczby studentów:
Cel przedmiotu:
Przekazanie studentom aktualnej wiedzy w zakresie zaawansowanych metod badania materiałów, możliwości i ograniczeń różnych metod badawczych opartych na wykorzystaniu specjalistycznej aparatury do badań strukturalnych.
Treści kształcenia:
Metody mikroskopowe, dyfrakcyjne i spektroskopowe badania materiałów.. Badania strukturalne materiałów nanokrystalicznych. Zastosowanie metod mikroskopowych, dyfrakcyjnych i spektroskopowych do zaawansowanych badań strukturalnych w inżynierii materiałowej. Zastosowanie sieci odwrotnej i konstrukcji sfery Ewalda do metod dyfrakcyjnych. Wykorzystanie czynnika strukturalnego do badania przemian strukturalnych. Rentgenowska analiza fazowa. Precyzyjny pomiar stałych sieci. Mikroanaliza rentgenowska (faloworozdzielcza i energorozdzielcza). Dyfrakcja elektronów; badanie koherencji wydzieleń. Określanie wielkości krystalitów. Dyfrakcja na strukturach uporządkowanych (TEM). Mikroskopia elektronowa w badaniu warstw epitaksjalnych.
Metody oceny:
Zaliczenie wszystkich laboratoriów z pozytywną oceną
Egzamin:
Literatura:
S. Jaźwiński, Instrumentalne metody badań materiałów, Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1988. Z. Bojarski, H. Habla, M. Surowiec, Materiały do nauki krystalografii, PWN, Warszawa 1986. Z. Bojarski, H. Habla, M. Surowiec, K. Stróż, Krystalografia, PWN, Warszawa 1996. L.A. Dobrzański, E. Hajduczek, Mikroskopia świetlna i elektronowa, PWN, Warszawa 1987. Z. Bojarski, E. Łągiewka, Rentgenowska analiza strukturalna, PWN, Warszawa 1988.
Witryna www przedmiotu:
Uwagi:

Efekty uczenia się