Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Oprogramowanie systemów pomiarowych - wykład
Koordynator przedmiotu:
Marcin Godziemba-Maliszewski, godziem@iem.pw.edu.pl, +48222347357
Status przedmiotu:
Fakultatywny ograniczonego wyboru
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Informatyka
Grupa przedmiotów:
Wspólne
Kod przedmiotu:
Semestr nominalny:
2 / rok ak. 2009/2010
Liczba punktów ECTS:
1
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium0h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
teoria obwodów i sygnałów, cyfrowe przetwarzanie sygnałów, programowanie obiektowe, inżynieria oprogramowania
Limit liczby studentów:
Cel przedmiotu:
Celem przedmiotu jest przybliżenie słuchaczowi zagadnień związanych z budową systemów pomiarowych oraz używanego do ich budowy oprogramowania.
Treści kształcenia:
W ramach wykładu poruszane są zagadnienia związane z wirtualnymi przyrządami pomiarowymi oraz budowanymi za ich pomocą systemami pomiarowymi. Nacisk kładziony jest na przyrządy wirtualne wykorzystujące karty zbierania danych oraz wykorzystujące różnego rodzaju interfejsy sprzętowe. W trakcie zajęć studenci zapoznają się ze strukturą, organizacją systemów pomiarowych oraz przykładami realizacji praktycznych. Jako oprogramowanie narzędziowe do budowania systemów kontrolno-pomiarowych przedstawione zostaną środowiska firmy National Instrument: LabWindows/CVI, LabView, Measurement Studio. W ramach wykładu przedstawione zostaną ogólne charakterystyki tych środowisk, funkcje wybranych modułów i bibliotek, współpraca aplikacji z przyrządami i systemami pomiarowymi, inżynieria oprogramowania w kontekście wytwarzania oprogramowania systemów pomiarowych, tworzenie pakietów dystrybucyjnych i wirtualnych przyrządów pomiarowych oraz komunikacja sieciowa. 1. Projektowanie systemów pomiarowych oraz środowiska wspomagające zarządzanie projektem. (2h) 2. Środowiska do projektowania i wytwarzania oprogramowania systemów pomiarowych. (8h) 3. Sterowniki urządzeń.(2h) 4. Karty zbierania danych w systemach pomiarowych (3h) W ramach wykładu poruszane są zagadnienia związane z wirtualnymi przyrządami pomiarowymi oraz budowanymi za ich pomocą systemami pomiarowymi. Nacisk kładziony jest na przyrządy wirtualne wykorzystujące karty zbierania danych oraz wykorzystujące różnego rodzaju interfejsy sprzętowe. W trakcie zajęć studenci zapoznają się ze strukturą, organizacją systemów pomiarowych oraz przykładami realizacji praktycznych. Jako oprogramowanie narzędziowe do budowania systemów kontrolno-pomiarowych przedstawione zostaną środowiska firmy National Instrument: LabWindows/CVI, LabView, Measurement Studio. W ramach wykładu przedstawione zostaną ogólne charakterystyki tych środowisk, funkcje wybranych modułów i bibliotek, współpraca aplikacji z przyrządami i systemami pomiarowymi, inżynieria oprogramowania w kontekście wytwarzania oprogramowania systemów pomiarowych, tworzenie pakietów dystrybucyjnych i wirtualnych przyrządów pomiarowych oraz komunikacja sieciowa. 1. Projektowanie systemów pomiarowych oraz środowiska wspomagające zarządzanie projektem. (2h) 2. Środowiska do projektowania i wytwarzania oprogramowania systemów pomiarowych. (8h) 3. Sterowniki urządzeń.(2h) 4. Karty zbierania danych w systemach pomiarowych (3h) W ramach wykładu poruszane są zagadnienia związane z wirtualnymi przyrządami pomiarowymi oraz budowanymi za ich pomocą systemami pomiarowymi. Nacisk kładziony jest na przyrządy wirtualne wykorzystujące karty zbierania danych oraz wykorzystujące różnego rodzaju interfejsy sprzętowe. W trakcie zajęć studenci zapoznają się ze strukturą, organizacją systemów pomiarowych oraz przykładami realizacji praktycznych. Jako oprogramowanie narzędziowe do budowania systemów kontrolno-pomiarowych przedstawione zostaną środowiska firmy National Instrument: LabWindows/CVI, LabView, Measurement Studio. W ramach wykładu przedstawione zostaną ogólne charakterystyki tych środowisk, funkcje wybranych modułów i bibliotek, współpraca aplikacji z przyrządami i systemami pomiarowymi, inżynieria oprogramowania w kontekście wytwarzania oprogramowania systemów pomiarowych, tworzenie pakietów dystrybucyjnych i wirtualnych przyrządów pomiarowych oraz komunikacja sieciowa. 1. Projektowanie systemów pomiarowych oraz środowiska wspomagające zarządzanie projektem. (2h) 2. Środowiska do projektowania i wytwarzania oprogramowania systemów pomiarowych. (8h) 3. Sterowniki urządzeń.(2h) 4. Karty zbierania danych w systemach pomiarowych (3h)
Metody oceny:
Egzamin:
Literatura:
1. Organizacja komputerowych systemów pomiarowych, Wiesław Winiecki, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1997. 2. LabVIEW język graficzny G, Duda, Przemysław, Warszawa 1998, 3. Wirtualny przyrząd pomiarowy : realne narzędzie współczesnej metrologii, Remigiusz J. Rak, 4. Warszawa 2003 Środowisko LabView w eksperymencie wspomaganym komputerowo, Wiesław Tłaczała, WNT 2005 5. LabWindows/CVI programming for beginners, Khalid Shahid F, Prince Hall 2000 6. LabVIEW 8 Student Edition, Robert H. Bishop, The University of Texas at Austin Publisher: Prentice Hall
Witryna www przedmiotu:
Uwagi:

Efekty uczenia się