Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Współczesne aplikacje systemów pomiarowych
Koordynator przedmiotu:
dr inż. Adam Jóśko, adam.josko@ee.pw.edu.pl, +48222347525
Status przedmiotu:
Fakultatywny ograniczonego wyboru
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Informatyka
Grupa przedmiotów:
Wspólne
Kod przedmiotu:
Semestr nominalny:
2 / rok ak. 2009/2010
Liczba punktów ECTS:
1
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium0h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Podstawy Informatyki, Systemy Informacyjno-Pomiarowe, Bazy Danych
Limit liczby studentów:
Cel przedmiotu:
Znajomość zagadnień i umiejętność rozwiązywania zagadnień związanych z projektowaniem, tworzeniem i obsługą systemów pomiarowych
Treści kształcenia:
Przedmiot dotyczy zagadnień związanych z projektowaniem i tworzeniem aplikacji pomiarowych stanowiących wirtualne przyrządy pomiarowe, kontekście systemów skupionych jak i rozproszonych. Program zajęć obejmuje zagadnienia związane z możliwościami jakie oferują współczesne karty zbierania danych i interfejsy umożliwiające komunikację z przyrządami autonomicznymi. Obejmuje on także tematykę związaną z wykorzystaniem technik przetwarzania sygnałów pomiarowych (jedno i dwuwymiarowych) i ich analizy w dziedzinie czasu, częstotliwości oraz na płaszczyźnie czas-częstotliwość, zastosowaniem baz danych w systemach pomiarowych oraz problemy związane z rozproszoną strukturą systemu pomiarowego tj. przesyłanie sygnałów pomiarowych, synchronizację danych pomiarowych, zdalny dostęp do systemu pomiarowego, a także identyfikację użytkownika.
Metody oceny:
Egzamin:
Literatura:
[1] "Measurement Studio User Manual", National Instruments Corporation, [2] "LabWindows/CVI User Manual", National Instruments Corporation, [3] "LabVIEW User Manual", National Instruments Corporation, [4] "Traditional NI-DAQ (Legacy) User Manual", National Instruments Corporation, [5] "Data Acquisition NI-DAQmx Help", National Instruments Corporation, [6] Nawrocki W., "Rozproszone systemy pomiarowe", Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Wydanie I, Warszawa 2006, [7] Rak R.J., "Wirtualny przyrząd pomiarowy - realne narzędzie współczesnej metrologii", Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2003, [8] Świstulski D., "Komputerowa technika pomiarowa. Oprogramowanie witrualnych przyrządów pomiarowych w LabVIEW", Agenda wydawnicza Pomiary Automatyka Kontrola, Warszawa 2005, [9] Winiecki W., Organizacja komputerowych systemów pomiarowych, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1997, [10] Winiecki W., Stanik S., Nowak J., "Graficzne, zintegrowane środowiska programowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo-kontrolnych", Wydawnictwo MIKOM Warszawa 2001, [11] Lyons R.G., "Wprowadzenie do cyfrowego przetwarzania sygnałów", Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Wydanie I, Warszawa 1999, [12] Stabrowski M., "Miernictwo elektryczne. Cyfrowa technika pomiarowa", Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1999, [13] Zieliński T. P., "Cyfrowe przetwarzanie sygnałów - Od teorii do zastosowań", Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Wydanie I, Warszawa 2005,
Witryna www przedmiotu:
Uwagi:

Efekty uczenia się