Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Aparatura w systemach zapewnienia jakości część II 
Koordynator przedmiotu:
dr inż. Olga Iwasińska
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
Semestr nominalny:
6 / rok ak. 2009/2010
Liczba punktów ECTS:
3
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium15h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wymagana jest znajomość treści zawartych w przedmiotach: Fizyka, Matematyka w zakresie probabilistyki i statystyki, Podstawy konstrukcji urządzeń precyzyjnych Zarządzanie jakością, Podstawy metrologii, Metrologia techniczna.
Limit liczby studentów:
Cel przedmiotu:
Pogłębienie wiedzy na temat aparatury pomiarowej aktualnie stosowanej w przyśle do kontroli i monitorowania procesów produkcji. Systemy do kontroli czynnej i biernej procesów kształtujących poziom jakości wyrobów, w szczególności parametrów wymiarowych i wykorzystujących informacje geometryczne do sterowania procesami oraz paramentów fizycznych pośrednio wpływających na geometrię wyrobów. Zapoznanie się z metodami pomiarowymi stykowymi, bezstykowymi a także przykładowymi rozwiązaniami technicznymi
Treści kształcenia:
Celem przedmiotu jest pogłębienie wiedzy na temat aparatury pomiarowej stosowanej w przyśle do kontroli i monitorowania procesów produkcji. Systemy do kontroli czynnej i biernej procesów kształtujących poziom jakości wyrobów, w szczególności parametrów wymiarowych i wykorzystujących informacje geometryczne do sterowania procesami oraz paramentów fizycznych pośrednio wpływających na geometrię wyrobów. Zapoznanie się z metodami pomiarowymi stykowymi, bezstykowymi a także przykładowymi rozwiązaniami technicznymi
Metody oceny:
egzamin
Egzamin:
Literatura:
Arendarski J.: Niepewność pomiarów. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa, 2006. Arendarski J., Gliwa-Gliwiński J., Jabłoński Z., Ratajczyk E., Tomasik J., Żebrowska-Łucyk S.: Sprawdzanie przyrządów do pomiaru długości i kąta. Oficyna Wydawnicza PW. Warszawa 2003., Dietrich E, Schulze A.: Metody statystyczne w kwalifikacji środków pomiarowych, maszyn i procesów produkcyjnych. Notika System 2000.
Witryna www przedmiotu:
Uwagi:

Efekty uczenia się