Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Informatyka w systemach pomiarowych
Koordynator przedmiotu:
mgr inż. Rafał Kłoda
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
Semestr nominalny:
5 / rok ak. 2009/2010
Liczba punktów ECTS:
3
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład0h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium450h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wymagana znajomość: Propedeutyka informatyki. Wstęp do technik komputerowych. Podstawy metrologii. Metrologia techniczna. Miernictwo elektryczne. Inteligentna aparatura pomiarowa.
Limit liczby studentów:
Cel przedmiotu:
Umiejętność tworzenia wirtualnych systemów pomiarowych w środowisku programistycznym LabVIEW.
Treści kształcenia:
1. Podstawy programowania obiektowego z wykorzystaniem LabVIEW. Opis środowiska pracy. Typy danych, paleta kontrolek i paleta funkcji. Struktury, łańcuchy znaków. Operatory. Konwertery danych. Właściwości obiektów. Zmienne lokalne i globalne. Funkcje do obsługi plików. Zapis i odczyt informacji w pliku tekstowym. 2. Zaawansowane techniki programowania obiektowego z wykorzystaniem LabVIEW. Funkcje i podprogramy. Prezentacja danych. Programowe modyfikowanie własności elementów wizualizacyjnych. Synchronizacja działania programów. Debugowanie programu. Biblioteki, tworzenie pliku wykonywalnego. Przekazywanie danych do innych aplikacji. Osadzanie i kontrolowanie obiektów ActiveX w środowisku LabVIEW. 3. Akwizycja danych i współpraca urządzeń w LabVIEW. Obsługa portu szeregowego RS-232. Obsługa portu równoległego LPT. Karty do akwizycji danych. Obsługa kart w środowisku LabVIEW. Odtwarzanie dźwięku. Rejestracja dźwięku. Pozyskiwanie informacji z urządzeń takich jak mysz, klawiatura, dżojstik. Tworzenie wirtualnych przyrządów pomiarowych. 4. Przetwarzanie danych pomiarowych. Akwizycja, analiza i wizualizacja wyników pozyskanych ze stanowiska do subiektywnej oceny jakości metodą SSCQE. 5. Współpraca urządzeń poprzez port RS-232 Komunikacja poprzez port RS-232 z wybranym urządzeniem pomiarowym. 6. Współpraca urządzeń poprzez port LPT. Wykorzystanie portu równoległego LPT do akwizycji do na przykładzie zewnętrznej klawiatury. 7. Transmisja danych poprzez sieć komputerową. Transmisja danych z wykorzystaniem protokołu TCP/IP oraz DataSocket. Zabezpieczanie danych pomiarowych przed dostępem nieuprawnionych osób 8. Sterowanie urządzeń poprzez sieć internetową. Zdalna kontrola programów. Serwer WWW. Pakiet Internet Toolkit for LabVIEW. Monitorowanie pracy urządzenia. Sterowanie urządzeniem za pomocą przeglądarki internetowej. Zabezpieczanie Sposoby zabezpieczenia informacji . Zabezpieczanie stron z wykorzystaniem serwera WWW. 9. Zdalne sterowanie urządzeniami pomiarowymi. Zdalne sterowanie wybranym urządzeniem za pośrednictwem sieci internetowej 10. Pozyskiwanie i przetwarzanie obrazu. Analiza obrazu pod kątem wyznaczenia jego dynamiki i ilości szczegółów 11. Analiza i przetwarzanie obrazu. Pakiet IMAQVision. Akwizycja obrazu (analogowego i cyfrowego) z wykorzystaniem specjalistycznych kart. Akwizycja danych z wykorzystaniem kamery USB. Odczyt danych zapisanych w plikach graficznych i wideo. Filtracja i obróbka obrazu. 12. Komunikacja z bazami danych. Bazy danych. Pakiet Database Connectivity for LabVIEW. Połączenie z bazą danych MySQL. Przetwarzanie informacji z bazy danych. 13. LabVIEW w zastosowaniach. Przykłady zastosowań programów napisanych w LabVIEW, w pracach badawczych i inżynierskich.
Metody oceny:
zaliczenie na podstawie ocen z poszczególnych ćwiczeń laboratoryjnych
Egzamin:
Literatura:
Tłaczała Wiesław "Środowisko LabVIEW w eksperymencie wspomaganym komputerowo", WNT, Warszawa 2002 Winiecki Wiesław, Nowak Jacek, Stanik Sławomir "Graficzne zintegrowane środowiska programowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo-kontrolnych". MIKOM, Warszawa 2001 Stadler Adam Witold "Systemy akwizycji i przesyłania danych", Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów 2002 Lesiak Piotr, Świsulski Dariusz "Komputerowa technika pomiarowa w przykładach", Agenda Wydawnicza PAK, Warszawa 2002 Nawrocki Waldemar "Rozproszone systemy pomiarowe", WKŁ, Warszawa 2006 Winiecki Wiesław "Organizacja komputerowych systemów pomiarowych", Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2006 Tumański Sławomir "Technika pomiarowa", WNT, Warszawa 2007 http://www.ni.com http://www.labview.pl
Witryna www przedmiotu:
Uwagi:

Efekty uczenia się