Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Metody Badania Materiałów III - laboratorium
Koordynator przedmiotu:
Dr inż. Elżbieta Jezierska
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Inżynieria Materiałowa
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
Semestr nominalny:
6 / rok ak. 2009/2010
Liczba punktów ECTS:
2
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład0h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium0h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wymagane przedmioty poprzedzające : Fizyka, Fizyka Ciała Stałego, Podstawy Nauki o Materiałach, Metody Badania Materiałów-wykład poprzedzający
Limit liczby studentów:
Cel przedmiotu:
Przekazanie studentom aktualnej wiedzy w zakresie metod badania materiałów, możliwości i ograniczeń różnych metod badawczych opartych na wykorzystaniu specjalistycznej aparatury. Nabycie przez studentów umiejętności identyfikacji fazowej i oceny mikrostruktury różnych materiałów polikrystalicznych.
Treści kształcenia:
Metody mikroskopowe, dyfrakcyjne i spektroskopowe badania materiałów. Rentgenowska analiza fazowa (jakościowa). Wpływ zgniotu i tekstury na obraz dyfrakcyjny. Transmisyjna mikroskopia elektronowa. Dyfrakcja elektronów-wskaźnikowanie elektronogramów. Badanie stopnia krystaliczności-materiały nanokrystaliczne. Metoda kalorymetrii różnicowej w badaniu przemian fazowych.
Metody oceny:
Egzamin pisemny w sesji (2-godzinny)
Egzamin:
Literatura:
S. Jaźwiński, Instrumentalne metody badań materiałów, Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1988. Z. Bojarski, H. Habla, M. Surowiec, Materiały do nauki krystalografii, PWN, Warszawa 1986. Z. Bojarski, H. Habla, M. Surowiec, K. Stróż, Krystalografia, PWN, Warszawa 1996. L.A. Dobrzański, E. Hajduczek, Mikroskopia świetlna i elektronowa, PWN, Warszawa 1987. Z. Bojarski, E. Łągiewka, Rentgenowska analiza strukturalna, PWN, Warszawa 1988.
Witryna www przedmiotu:
Uwagi:

Efekty uczenia się