Nazwa przedmiotu:
Metrologia Przemysłowa
Koordynator przedmiotu:
prof. nzw dr hab. inż.Mateusz Turkowski
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
brak
Semestr nominalny:
5 / rok ak. 2009/2010
Liczba punktów ECTS:
4
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład30h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium15h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Podstawy Metrologii. Miernictwo elektryczne. Podstawy Mechaniki Płynów
Limit liczby studentów:
Cel przedmiotu:
Znajomość budowy aparatury pomiarowej do pomiaru ciśnienia, temperatury, parametrów przepływu, poziomu, właściwości substancji (lepkość, gęstość, pH) i składu substancji.Umiejętność doboru aparatury pomiarowej dla procesów przemysłu przetwórczego z uwzględnieniem wymagań procesu i warunków środowiskowych.Umiejętność zaprojektowania prostego przemysłowego systemu pomiarowego wraz z oceną niepewności.
Treści kształcenia:
1. Zadania metrologii przemysłowej. Środowisko pomiarów przemysłowych: narażenia klimatyczne i mechaniczne, kompatybilność elektromagnetyczna. Stopnie ochrony obudowy. Wymagania dla stref zagrożonych wybuchem. Oznaczenia aparatury na schematach. Sygnały standardowe. Magistrale procesowe. 2. Pomiary temperatury. Definicja, jednosdtki, skala międzynarodowa MST'90. Termometry oparte o rozsszerzalnośc cieczy, gazów, ciał stałych. Przetworniki temperatury. Termometry rezystancyjne. Termometry termoelektryczne. Bezstykowe pomiary temperatury. Termowizja. 3.Pomiary ciśnienia. Ciśnieniomierze hydrostatyczne. Ciśnieniomierze z elementem sprężystym. Przetworniki ciśnienia: półprzewodnikowe, pojemnościowe, rezonansowe. 4. Pomiary przepływów. Definicje. Wpływ ciśnienia, temperatury, gęstości, lepkości, chropowatości. Liczba Reynoldsa jako kryterium doboru. Budowa i działanie przepływomierzy zwężkowych, piętrzących, rotametrów, turbinowych, komorowych, ultradźwiękowych, elektromagnetycznych, Coriolisa. 5. Pomiary poziomu, lepkości, gęstości, składu substancji.
Metody oceny:
Egzamin z treści wykładu oraz ocena laboratorium podstawie sprawdziany wstępnego oraz złożonych sprawozdań
Egzamin:
Literatura:
1. Turkowski M.: Przemysłowe sensory i przetworniki pomiarowe. OWPW, Warszawa 2000 lub 2001 2. Turkowski M.: Pomiary przepływów. WPW, Warszawa, 1989 3. Chwaleba A., Czajewski J.: Przetworniki pomiarowe i defektoskopowe. OWPW, Warszawa, 1998 4. Kabza Z., Kostyrko K.: Metrologia przepływów, gęstości i lepkości. Wyd. WSI Opole, 1995
Witryna www przedmiotu:
Uwagi:

Efekty uczenia się