Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Ilościowa charakterystyka struktury materiałów
Koordynator przedmiotu:
Dr hab. inż. Krzysztof Rożniatowski, adiunkt
Status przedmiotu:
Fakultatywny ograniczonego wyboru
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Inżynieria Materiałowa
Grupa przedmiotów:
Kierunkowe
Kod przedmiotu:
brak
Semestr nominalny:
2 / rok ak. 2009/2010
Liczba punktów ECTS:
1
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia15h
  • Laboratorium0h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Brak wymagań wstępnych. Zalecane przypomnienie sobie kluczowych zagadnień takich przedmiotów jak: Statystyka i Opracowanie Wyników Badań, Metody Badania Materiałów
Limit liczby studentów:
Cel przedmiotu:
Przekazanie studentom wiedzy o ilościowych metodach charakteryzowania mikrostruktury materiałów, podstawach morfologii matematycznej wykorzystywanej do detekcji analizowanych elementów mikrostruktury, stereologii oraz parametrach wykorzystywanych do ilościowego opisu struktury.
Treści kształcenia:
Wykład: akwizycja obrazu, obrazy binarne, przekształcenia obrazów binarnych, morfologia matematyczna, stereologia i notacja stereologiczna, podstawowe związki stereologiczne, zasada Cavalieri, metody próbkowania, metody pomiaru ułamka objętości materiału, wielkości i kształtu oraz rozmieszczenia wybranych elementów mikrostruktury, charakterystyka ilościowa powierzchni swobodnych, interpretacja wielkości liczbowych charakteryzujących strukturę, oprogramowanie użyteczne do ilościowej analizy struktury. Ćwiczenia: Wyznaczanie parametrów charakteryzujących ilościowo strukturę materiałów na dostarczonych przez prowadzącego obrazach struktur, samodzielne przekształcanie obrazów do postaci binarnej – czytelnej dla programów analizujących obraz, nauka wykorzystania wybranych programów do przekształcania i analizy obrazu, nabywanie umiejętności prezentacji wyników ilościowej analizy struktury.
Metody oceny:
Kartkówka, kolokwium oraz prezentacja samodzielnej próby przekształcania obrazu z wykorzystaniem wybranego programu realizującego przekształcenia morfologiczne obrazu.
Egzamin:
Literatura:
1. S.A.Saltykow, Stereometric Metallography, 1st edn. (In Russian). State Publishing House for Metals Sciences, Moscow (1945), 2. J.Ryś, Stereologia Materiałów, Fotobit Design 1995, 281-284, 3. K. J. Kurzydlowski and B. Ralph, The Quantitative Description of the Microstructure of Materials. CRC Press, Boca Raton, FL (1995), 4. E. E. Underwood, Quantitative stereology, Addison-Wesley, ed., USA, (1970), 5. J. C. Russ, R. T. Dehoff, Practical Stereology, 2nd Edition, Plenum Press, New York, 2000, 6. M.Coster, J.l.Chermant, Precis d’Analyse d’Images, Presses du CNRS, 1989, 7. L.Wojnar, K.J.Kurzydłowski, J.Szala, Praktyka analizy obrazu, Polskie Towarzystwo Stereologiczne, Kraków 2002, s.1-454, 8. J.Szala, Zastosowanie metod komputerowej analizy obrazu do ilościowej oceny struktury materiałów, Zeszyty Naukowe Politechniki Śląskiej Nr 1581, Gliwice 2001, 9. P.J.Diggle, Statistical Analysis of Spatial Point Patterns, Arnold London 2003, 10. J.Ohser, F.Mucklich, Statistical Analysis of Microstructures in Materials Science, John Wiley&Sons LTD, 2000, 11. D.Stoyan, W.Kendall, J.Mecke, Stochastic Geometry and its Applications, John Wiley&Sons LTD, 1995, 12. K.Rożniatowski, Metody charakteryzowania niejednorodności rozmieszczenia elementów strukturalnych w materiałach wielofazowych, Oficyna PW, Warszawa 2008
Witryna www przedmiotu:
Uwagi:

Efekty uczenia się