Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Elektronowa mikroskopia skaningowa i mikroanaliza rentgenowska w inżynierii materiałowej
Koordynator przedmiotu:
Prof. nzw. dr hab. inż. Krzysztof Sikorski
Status przedmiotu:
Fakultatywny dowolnego wyboru
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Inżynieria Materiałowa
Grupa przedmiotów:
OBIERALNE
Kod przedmiotu:
Semestr nominalny:
2 / rok ak. 2009/2010
Liczba punktów ECTS:
1
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład30h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium0h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Zaliczenie przedmiotów: „Metody Badania Materiałów”, „Zaawansowane metody Badania Materiałów”, „Struktura Stopów I i II”
Limit liczby studentów:
Cel przedmiotu:
Nabycie wiedzy o możliwościach badawczych współczesnej elektronowej mikroskopii skaningowej i mikroanalizy rentgenowskiej oraz praktycznego ich wykorzystania w inżynierii materiałowej.
Treści kształcenia:
Kontrast topograficzny i jego wykorzystanie do badań fraktograficznych, oceny degradacji materiałów pod wpływem temperatury i obciążeń, oceny zmian mikrostruktury materiałów w wyniku korozji, badania proszków i cienkich warstw powierzchniowych. Obrazy EBSD i ich wykorzystanie do badań orientacji krystalitów i kąta dezorientacji pomiędzy ziarnami. Kontrast magnetyczny i jego wykorzystanie. Kontrast EBIC i jego wykorzystanie w badaniach elementów półprzewodnikowych. Kontrast napięciowy i jego wykorzystanie. Luminescencja katodowa i jej wykorzystanie. Wykorzystanie SEM w ekspertyzach poawaryjnych. Mikroanaliza faz i wtrąceń w badaniach materiałów. Metodyka badań procesów dyfuzyjnych i wyznaczanie współczynników dyfuzji. Specyfika analizy ilościowej składu chemicznego materiałów zawierających pierwiastki lekkie, jak: B, C, O, N, F. Badania niejednorodności materiałów. Analiza śladowa pierwiastków. Zastosowanie EPMA w badaniach degradacji materiałów pracujących w podwyższonych temperaturach. Wykorzystanie EPMA w ekspertyzach poawaryjnych. Metody badania mikroobszarów o wymiarach mniejszych od zdolności rozdzielczej metody (cienkie warstwy i układy wielowarstwowe osadzone na litych podłożach, mikroobszary położone przy granicy międzyfazowej, strefy dyfuzyjne z gradientem składu chemicznego, małe cząstki). Wykorzystanie symulacji Monte Carlo w mikroanalizie rentgenowskiej.
Metody oceny:
Egzamin pisemny
Egzamin:
Literatura:
Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej (pod red. A. Szummera), WNT, Warszawa 1994 K. Sikorski, Mikroanaliza cienkich warstw i małych cząstek, Prace naukowe Politechniki Warszawskiej, Inżynieria materiałowa z. 11, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2000 K. Sikorski, Quantitative X-ray Microanalysis Beyond the Resolution of the Method, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2009 ISBN 978-83-7207-811-7
Witryna www przedmiotu:
Uwagi:

Efekty uczenia się