Nazwa przedmiotu:
Współczesne metody badań materiałów
Koordynator przedmiotu:
prof. dr hab. inż. Adam Proń
Status przedmiotu:
Fakultatywny dowolnego wyboru
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Technologia Chemiczna
Grupa przedmiotów:
Obieralne
Kod przedmiotu:
brak
Semestr nominalny:
1 / rok ak. 2011/2012
Liczba punktów ECTS:
2
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
1. godziny kontaktowe 30h, w tym: a) obecność na wykładach – 30h, 2. zapoznanie się ze wskazaną literaturą – 10h 3. przygotowanie do egzaminu i obecność na egzaminie – 10h Razem nakład pracy studenta: 30h + 10h + 10h = 50h, co odpowiada 2 punktom ECTS
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
1. obecność na wykładach – 30h, Razem: 30h, co odpowiada 1 punktowi ECTS.
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
0
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład30h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium0h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Podstawowy kurs chemii fizycznej
Limit liczby studentów:
brak
Cel przedmiotu:
Po ukończeniu kursu student powinien: • mieć ogólną wiedzę na temat badania struktury molekularnej pojedynczych cząsteczek i nadcząsteczkowej struktury uporządkowanych agregacji cząsteczek, • mieć wiedzę dotyczącą specyficznego zastosowania spektroskopii oscylacyjnej, elektronowej, rezonansowej i fotoelektronowej, jak również metod mikroskopowych.
Treści kształcenia:
Celem przedmiotu jest zapoznanie się z metodami badania materiałów organicznych, nieorganicznych i hybrydowych (organiczno – nieorganicznych) na różnych poziomach: cząsteczki (makrocząsteczki), agregacji molekularnej, krystalitu, fazy, etc. Treści merytoryczne przedmiotu obejmują przegląd stosowanych metod spektroskopowych wraz z przykładami: - NMR ciała stałego, - spektroskopia oscylacyjna (IR, Raman) - spektroskopia UV-Vis-NIR - spektroskopia fotoelektronowa (XPS, UPS) - metody dyfrakcyjne (rentgenowska i neutronograficzna) W przypadku metod spektroskopowych i dyfrakcyjnych uwzględnione również będą badania z zastosowaniem promieniowania synchrotronowego. - metody mikroskopowe (TEM, AFM, STM).
Metody oceny:
Egzamin ustny
Egzamin:
tak
Literatura:
brak
Witryna www przedmiotu:
ch.pw.edu.pl
Uwagi:

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt W01
mieć ogólną wiedzę na temat badania struktury molekularnej pojedynczych cząsteczek i struktury nadcząsteczkowej uporządkowanych agregacji cząsteczek
Weryfikacja: egzamin
Powiązane efekty kierunkowe: K_W01, K_W02, K_W08
Powiązane efekty obszarowe: T2A_W01, T2A_W01, T2A_W03, T2A_W03
Efekt W02
mieć wiedzę dotyczącą specyficznego zastosowania spektroskopii oscylacyjnej, elektronowej, rezonansowej i fotoelektronowej, jak również metod mikroskopowych
Weryfikacja: egzamin
Powiązane efekty kierunkowe: K_W02, K_W08, K_W09
Powiązane efekty obszarowe: T2A_W01, T2A_W03, T2A_W03, T2A_W02

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt U01
potrafi interpretować widma NMR, EPR, Ramana, ir, UV-vis, XPS; obrazy TEM, AFM, STM; krzywe TG i DSC; dyfraktogramy rentgenowskie
Weryfikacja: egzamin
Powiązane efekty kierunkowe: K_U01, K_U07, K_U08
Powiązane efekty obszarowe: T1A_U01, T1A_U05, T2A_U08, T2A_U11, T2A_U16, T2A_U08, T2A_U09
Efekt U02
zna specjalistyczne słownictwo angielskie z zakresu spektroskopii, dyfrakcji rentgenowskiej i mikroskopii
Weryfikacja: egzamin
Powiązane efekty kierunkowe: K_U03
Powiązane efekty obszarowe: T2A_U03, T2A_U06

Profil ogólnoakademicki - kompetencje społeczne

Efekt K01
rozumie potrzebę nadążania za rozwojem nauki i technologii
Weryfikacja: egzamin
Powiązane efekty kierunkowe: K_K01
Powiązane efekty obszarowe: T2A_K01