- Nazwa przedmiotu:
- Elektronowa Mikroskopia Skaningowa i Mikroanaliza Remtgenowska/ Scanning Electron Microscopy
- Koordynator przedmiotu:
- Prof. dr hab. inż. Krzysztof Sikorski
- Status przedmiotu:
- Fakultatywny dowolnego wyboru
- Poziom kształcenia:
- Studia II stopnia
- Program:
- Inżynieria Materiałowa
- Grupa przedmiotów:
- Obieralne
- Kod przedmiotu:
- SEMiMAR1
- Semestr nominalny:
- 3 / rok ak. 2014/2015
- Liczba punktów ECTS:
- 1
- Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
- 25 godz., w tym obecność na wykładach - 15 godz., samodzielna praca studenta - 10 godz.
- Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
- 0,6
- Język prowadzenia zajęć:
- polski
- Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
- Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
-
- Wykład15h
- Ćwiczenia0h
- Laboratorium0h
- Projekt0h
- Lekcje komputerowe0h
- Wymagania wstępne:
- Zaliczenie przedmiotów: „Metody Badania Materiałów”, „Zaawansowane metody Badania Materiałów”,
- Limit liczby studentów:
- bez limitu
- Cel przedmiotu:
- Nabycie wiedzy o możliwościach badawczych współczesnej elektronowej mikroskopii skaningowej i mikroanalizy rentgenowskiej oraz praktycznego ich wykorzystania w inżynierii materiałowej
- Treści kształcenia:
- Kontrast topograficzny i jego wykorzystanie do badań fraktograficznych, oceny degradacji materiałów pod wpływem temperatury i obciążeń, oceny zmian mikrostruktury materiałów w wyniku korozji, badania proszków i cienkich warstw powierzchniowych.
Obrazy EBSD i ich wykorzystanie do badań orientacji krystalitów i kąta dezorientacji pomiędzy ziarnami.
Kontrast magnetyczny i jego wykorzystanie.
Kontrast EBIC i jego wykorzystanie w badaniach elementów półprzewodnikowych. Kontrast napięciowy i jego wykorzystanie.
Luminescencja katodowa i jej wykorzystanie.
Wykorzystanie SEM w ekspertyzach poawaryjnych.
Mikroanaliza faz i wtrąceń w badaniach materiałów.
Metodyka badań procesów dyfuzyjnych i wyznaczanie współczynników dyfuzji. Specyfika analizy ilościowej składu chemicznego materiałów zawierających pierwiastki lekkie, jak: B, C, O, N, F.
Badania niejednorodności materiałów.
Analiza śladowa pierwiastków.
Zastosowanie EPMA w badaniach degradacji materiałów pracujących w podwyższonych temperaturach.
Wykorzystanie EPMA w ekspertyzach poawaryjnych.
Metody badania mikroobszarów o wymiarach mniejszych od zdolności rozdzielczej metody (cienkie warstwy i układy wielowarstwowe osadzone na litych podłożach, mikroobszary położone przy granicy międzyfazowej, strefy dyfuzyjne z gradientem składu chemicznego, małe cząstki).
Wykorzystanie symulacji Monte Carlo w mikroanalizie rentgenowskiej.
- Metody oceny:
- Zaliczenie
- Egzamin:
- nie
- Literatura:
- Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej (pod red. A. Szummera), WNT, Warszawa 1994
K. Sikorski, Mikroanaliza cienkich warstw i małych cząstek, Prace naukowe Politechniki Warszawskiej, Inżynieria materiałowa z. 11, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2000
K. Sikorski, Quantitative X-ray Microanalysis Beyond the Resolution of the Method, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2009 ISBN 978-83-7207-811-7
- Witryna www przedmiotu:
- brak
- Uwagi:
Efekty uczenia się
Profil ogólnoakademicki - wiedza
- Efekt SEMiMAR_W1
- Zna zasady wzbudzenia sygnałów elektronów wtórnych, wstecznie rozproszonych, prądu indukowanego, charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego i luminescencji katodowej w ciałach stałych. Zna podstawy detekcji w/w sygnałów i podstawy ich doboru. Zna ich korelacje ze strukturą i składem chemicznym badanego materiału. Zna zasady doboru rodzaju sygnału do określonych zastosowań. Zna podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej. Zna wybrane przykłady zastosowań elektronowej mikroskopii skaningowej i mikroanalizy rentgenowskiej w badaniach materiałów.
Weryfikacja: kolokwium
Powiązane efekty kierunkowe:
IM2_W08
Powiązane efekty obszarowe:
T2A_W04
Profil ogólnoakademicki - umiejętności
- Efekt SEMiMAR_U1
- Potrafi dobrać rodzaj sygnału emitowanego z próbki badanej elektronowym mikroskopem skaningowym oraz mikroanalizatorem rentgenowskim do określonych zastosowań. Potrafi dobrać warunki badań. Potrafi prawidłowo zinterpretować przykładowe wyniki badań.
Weryfikacja: kolokwium
Powiązane efekty kierunkowe:
IM2_U10
Powiązane efekty obszarowe:
T2A_U10