Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Metrologia papiernicza i poligraficzna 1
Koordynator przedmiotu:
dr inż. Konrad Blachowski
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Papiernictwo i Poligrafia
Grupa przedmiotów:
Technologia papiernictwa i poligrafii
Kod przedmiotu:
IP-IZP-MEPA1-3-10Z
Semestr nominalny:
4 / rok ak. 2013/2014
Liczba punktów ECTS:
3
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Sumaryczna liczba godzin pracy studenta: 80. Obejmuje: 1) Zajęcia kontaktowe z nauczycielem: Uczestnictwo w wykładach - 30 godz. 2) Zajęcia bez kontaktu z nauczycielem (Praca własna studenta): Przygotowanie do zajęć - 35 godz. Przygotowanie do egzaminu - 15 godz. RAZEM: 50 godz.
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
1 punkt ECTS.
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
-
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład450h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium0h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Przedmioty, na których bazuje dany przedmiot (prerekwizyty): [IP-IZW-MATE2-5-10Z] Matematyka 2 [IP-IZW-FIZY2-4-10Z] Fizyka 2
Limit liczby studentów:
-
Cel przedmiotu:
Celem przedmiotu jest zapoznanie studentów z podstawowymi pojęciami metrologii ogólnej. Dodatkowo w ramach niniejszego przedmiotu słuchacze poznają zagadnienia związane z filozofią pomiaru oraz z oceną niepewności pomiarowej. Ponadto studenci poznają przykładowe właściwości metrologiczne stosowane w przemyśle poligraficznym i papierniczym. Szczególny nacisk kładziony jest na te właściwości, które związane są z oceną jakości produktów przemysłu poligraficznego.
Treści kształcenia:
Teoria i filozofia pomiaru; rozwój teorii pomiaru; elementy formalnej teorii pomiaru; empiryczny system relacyjny; liczbowy system relacyjny; definicja pomiaru; warunki reprezentatywności; warunki jednoznaczności przekształceń pomiędzy empirycznym i liczbowym systemem relacyjnym; skale pomiarowe i miary; pomiar ekstensywny; definicja wielkości pomiarowej; wielkości addytywne; skala pomiarowa wielkości addytywnej; skala odpowiedniościowa właściwości; skala uszeregowana właściwości; pomiar pośredni i pośrednie skale pomiarowe; pomiary wielowymiarowe; klasyfikacja skal pomiarowych: nominalna, porządkowa, interwałowa, ilorazowa; transformacje dopuszczalne; proces pomiarowy na potrzeby badań naukowych; definicja doświadczenia naukowego; uproszczona definicja pomiaru; układy jednostek miar: SI, CGS, MKS, MTS, MkGS, system brytyjski; wtórne jednostki miar (przedrostki); narzędzia pomiarowe; wzorce (etalony) i ich klasyfikacja; przyrządy pomiarowe; parametry przyrządów pomiarowych: rozdzielczość, powtarzalność, odtwarzalność, dokładność; przetworniki pomiarowe; układy pomiarowe; systemy pomiarowe; metody pomiarowe i ich klasyfikacja (metody analogowe i cyfrowe; metody bezpośrednie, pośrednie i złożone, metody porównawcze, odchyłowe, różnicowe, zerowe, podstawieniowe i przedstawieniowe; Podstawy rachunku błędów; definicja błędu, błędu względnego, wartości poprawki oraz błędu granicznego; klasyfikacja błędów pomiarów (podstawowe i dodatkowe; wzorcowania, odczytu, próbkowania i zliczania; systematyczne i przypadkowe); Elementy rachunku prawdopodobieństwa w zastosowaniach metrologicznych; parametry rozkładu zmiennej losowej: przestrzeń mierzalna, prawdopodobieństwo, zmienna losowa, dystrybuanta zmiennej losowej, gęstość prawdopodobieństwa, wartość oczekiwana, wariancja, unormowane i standaryzowane zmienne losowe. Przykłady rozkładów zmiennych losowych używanych w procesach pomiarowych: zero-jedynkowy, dwumianowy (Bernoulliego), Poissona, równomierny (jednostajny), normalny (Moivre’a-Gaussa, Gaussa-Laplace’a), rozkład Studenta, rozkład logarytmiczno-normalny, rozkład Gamma (w tym wykładniczy oraz chi-kwadrat). Charakterystyka błędów losowych pomiaru: estymatory – średnia arytmetyczna, odchylenie kwadratowe średniej arytmetycznej, odchylenie standardowe; przedziały ufności; opracowywanie wyników pomiarów. Pojęcia i procedury związane z wyznaczeniem niepewności pomiarowej.
Metody oceny:
Ocena na podstawie wyników pisemnego egzaminu
Egzamin:
tak
Literatura:
1. Sydenham P.H.: Podręcznik metrologii. Tom I: Podstawy teoretyczne. Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa 1988 2. Chwaleba A., Poniński M., Siedlecki A.: Metrologia elektryczna. WNT, Warszawa 2003 3. Sałaciński T.: Elementy metrologii wielkości geometrycznych. Przykłady i zadania. Oficyna Wydawnicza PW, Warszawa 2000.
Witryna www przedmiotu:
http://ip.hoff.pl/content/blogcategory/73/177/
Uwagi:
-

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt MEPA1_W1
Wiedza z zakresu statystyki niezbędna do oceny niepewności pomiarowej
Weryfikacja: Egzamin końcowy
Powiązane efekty kierunkowe: PK1A_W01
Powiązane efekty obszarowe: T1A_W01
Efekt MEPA1_W2
Student ma podstawową wiedzę w zakresie metrologii. Student zna i rozumie podstawy rachunku błędów. Zna i rozumie metody pomiaru, charakterystykę błędów losowych pomiaru. Posiada podstawową wiedzę z zakresu rachunku prawdopodobieństwa w odniesieniu do zastosowań metrologicznych. Posiada wiedzę ogólną nt. przyrządów i narzędzi pomiarowych. Umie scharakteryzować w sposób ogólny metody pomiaru i ich klasyfikację. Umie scharakteryzować w sposób ogólny przykłady rozkładów zmiennych losowych używanych w procesach pomiarowych. Zna pojęcia i procedury związane z wyznaczeniem niepewności pomiarowej.
Weryfikacja: Egzamin.
Powiązane efekty kierunkowe: PK1A_W09
Powiązane efekty obszarowe: T1A_W04, T1A_W05

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt MEPA1_U1.
Student w oparciu o zalecaną literaturę przez prowadzącego lub inne źródła fachowej wiedzy rozwija swoją wiedzę z zakresu zagadnień związanych z metrologią.
Weryfikacja: Egzamin końcowy.
Powiązane efekty kierunkowe: PK1A_U05
Powiązane efekty obszarowe: T1A_U05
Efekt MEPA1_U2
Student umie wyznaczyć niepewność pomiaru
Weryfikacja: Egzamin końcowy.
Powiązane efekty kierunkowe: PK1A_U10
Powiązane efekty obszarowe: T1A_U10