Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Metrologia Przemysłowa
Koordynator przedmiotu:
prof. nzw dr hab. inż.Mateusz Turkowski
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
MEP
Semestr nominalny:
5 / rok ak. 2013/2014
Liczba punktów ECTS:
4
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
1) Liczba godzin bezpośrednich – 64, w tym: • wykład 30 godz, • laboratorium 30 godz. • konsultacje 2 godz. • egzamin – 2 godz. 2) Praca własna studenta – 50 • przygotowanie do laboratorium 15 godz, • studia literaturowe, przygotowanie do egzaminu 15 godz., • opracowanie sprawoznań z laboratorium oraz prezentacji wyników- 20 godz. Razem: 112 – 4 punkty ECTS.
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
2,5 punktu ECTS - godzin bezpośrednich – 64, w tym: • wykład 30 godz, • laboratorium 30 godz. • konsultacje 2 godz. • egzamin – 2 godz
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
2,5 punktu ECTS – 65 godzin, w tym: • opracowanie sprawoznań z laboratorium oraz prezentacji wyników- 20 godz • przygotowanie do laboratorium 15 godz, • laboratorium 30 godz
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład30h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium15h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Podstawy Metrologii. Miernictwo elektryczne. Podstawy Mechaniki Płynów
Limit liczby studentów:
Cel przedmiotu:
Zapoznanie się z budową aparatury pomiarowej do pomiaru ciśnienia, temperatury, parametrów przepływu, poziomu, właściwości substancji (lepkość, gęstość, pH) i składu substancji.Umiejętność doboru aparatury pomiarowej dla procesów przemysłu przetwórczego z uwzględnieniem wymagań procesu - warunków środowiskowych i bezpieczeństwa. Umiejętność zaprojektowania prostego przemysłowego systemu pomiarowego wraz z oceną niepewności.
Treści kształcenia:
1. Zadania metrologii przemysłowej. Środowisko pomiarów przemysłowych: narażenia klimatyczne i mechaniczne, kompatybilność elektromagnetyczna. Stopnie ochrony obudowy. Wymagania dla stref zagrożonych wybuchem. Oznaczenia aparatury na schematach P&ID. Sygnały standardowe. Magistrale procesowe. 2. Pomiary temperatury. Definicja, jednosdtki, skala międzynarodowa MST'90. Termometry oparte o rozsszerzalnośc cieczy, gazów, ciał stałych. Przetworniki temperatury. Termometry rezystancyjne. Termometry termoelektryczne. Bezstykowe pomiary temperatury. Termowizja. 3.Pomiary ciśnienia. Ciśnieniomierze hydrostatyczne. Ciśnieniomierze z elementem sprężystym. Przetworniki ciśnienia: półprzewodnikowe, pojemnościowe, rezonansowe. 4. Pomiary przepływów. Definicje. Wpływ ciśnienia, temperatury, gęstości, lepkości, chropowatości na zjawiska zachodzące w przepływie. Liczba Reynoldsa jako kryterium doboru przepływomierza. Budowa, podstawy teoretyczne, właściwości metrologiczno-eksploatacyjne i działanie przepływomierzy zwężkowych, piętrzących, rotametrów, turbinowych, komorowych, ultradźwiękowych, elektromagnetycznych, Coriolisa. 5. Pomiary poziomu, lepkości, gęstości, składu substancji. Zasady pomiaru, właściwości metrologiczne aparatury.
Metody oceny:
Egzamin z treści wykładu oraz ocena laboratorium podstawie sprawdzianów wstępnych oraz złożonych sprawozdań i prezentacji wyników
Egzamin:
tak
Literatura:
1. Turkowski M.: Przemysłowe sensory i przetworniki pomiarowe. OWPW, Warszawa 2000 lub 2001 2. Turkowski M.: Pomiary przepływów. WPW, Warszawa, 1989 3. Chwaleba A., Czajewski J.: Przetworniki pomiarowe i defektoskopowe. OWPW, Warszawa, 1998 4. Kabza Z., Kostyrko K.: Metrologia przepływów, gęstości i lepkości. Wyd. WSI Opole, 1995
Witryna www przedmiotu:
brak
Uwagi:

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt MEP _W1
Posiada wiedzę w zakresie metrologii ciśnienia, temperatury, przepływu, parametrów fizykochemicznych, poziomu, składu substancji, zna ich parametru metrologiczne i właściwości eksploatacyjne
Weryfikacja: Egzamin, kartkówki przed rozpoczęciem zajęć
Powiązane efekty kierunkowe: K_W10
Powiązane efekty obszarowe: T1A_W02, T1A_W04
Efekt MEP _W2
Posiada wiedzę w zakresie podstaw fizycznych funkcjonowania czujników ciśnnienia, temperatury, przepływu, poziomu, właściwości fizykochemicznych substancji
Weryfikacja: Egzamin
Powiązane efekty kierunkowe: K_W11
Powiązane efekty obszarowe: T1A_W02, T1A_W03

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt MEP _U1
Potrafi oszacować niepewności standardowe pomiarów i zsumować je zgodnie z zasadami metrologii dla uzyskania niepewności złożonej i rozszerzonej
Weryfikacja: Sprawozdania z ćwiczeń laboratoryjnych
Powiązane efekty kierunkowe: K_U13
Powiązane efekty obszarowe: T1A_U08, T1A_U16
Efekt MEP _U2
Potrafi dobrać z katalogów czujniki i przetworniki pomiarowe odpowiednie dla danego zastosowania z uwzględnieniem warunków środowiskowych i wymaganej dokładności
Weryfikacja: Egzamin
Powiązane efekty kierunkowe: K_U15
Powiązane efekty obszarowe: T1A_U09, T1A_U16
Efekt MEP _U3
Potrafi ocenić potrzebę i dobrać urządzenia do pracy w środowisku zagrożonym wybuchem
Weryfikacja: Egzamin
Powiązane efekty kierunkowe: K_U27
Powiązane efekty obszarowe: T1A_U11

Profil ogólnoakademicki - kompetencje społeczne

Efekt MEP _K01
Potrafi zorganizować pracę małego zespołu dla realizacji konkretnego zadania badawczego
Weryfikacja: Obserwacja przebiegu zajęć laboratoryjnych
Powiązane efekty kierunkowe: K_K04
Powiązane efekty obszarowe: T1A_K03, T1A_K04, T1A_K05