Nazwa przedmiotu:
Analiza sygnałów wielowymiarowych
Koordynator przedmiotu:
dr inż. Marcin Jasiński
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Specjalnościowe
Kod przedmiotu:
406
Semestr nominalny:
7 / rok ak. 2013/2014
Liczba punktów ECTS:
3
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
1. godziny kontaktowe: 15W+15L = 30h; 2. studia literaturowe: 15W = 15h; 2. przygotowanie do zajęć: 8W+5L = 13h 2. sprawozdania: 5L = 5h 3. przygotowania do kolokwium 12W = 12h; Razem nakład pracy studenta: 30+15h+13h+5h+12h = 75h, co odpowiada 3 punktom ECTS.
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
1,2
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
1
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład225h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium225h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wymagana jest znajomość podstaw analizy matematycznej i analizy sygnałów.
Limit liczby studentów:
zgodnie z zarządzeniem Rektora
Cel przedmiotu:
Celem przedmiotu jest poznanie metod analizy sygnałów wielowymiarowych, nabycie umiejętność wykonania modeli matematycznych oraz analizy sygnałów wielowymiarowych. Zadaniem przedmiotu będzie wykorzystanie nabytych na wykładzie informacji w praktyce w laboratorium.
Treści kształcenia:
Wykład: 1. Architektura systemów komputerowej analizy i rozpoznawania obrazów. 2. Matematyczne modele dyskretyzacji obrazów. 3. Addytywne operatory liniowe. 4. Operatory różniczkowe. 5. Transformacja przestrzenna. Analiza kształtu. 6. Dwuwymiarowa transformata Fouriera. 7. Dwuwymiarowa transformata Hilberta. Transformata Hilberta-Huanga. 8. Inne transformacje wielowymiarowe. 9. Metoda analizy składowych głównych (PCA). 10. Rozkład macierzy względem wartości szczególnych (SVD). 11. Empiryczne modele diagnostyczne Laboratorium: 1. Wykorzystanie matematycznych modeli w dyskretyzacji obrazów. 2. Zastosowanie transformacji przestrzennych w analizie kształtu przedmiotu. 3. Porównanie dwuwymiarowej transformaty Fouriera z przedstawicielami innych transformacji wielowymiarowych. 4. Metoda analizy składowych głównych (PCA) w analizie danych statystycznych. 5. Rozkład macierzy względem wartości szczególnych (SVD) w budowie empirycznego modelu diagnostycznego. 6. System komputerowej analizy i rozpoznawania obrazów.
Metody oceny:
2 kolokwia, raporty z wykonania ćwiczeń laboratoryjnych
Egzamin:
nie
Literatura:
1. Panek T.: Statystyczne metody wielowymiarowej analizy porównawczej. Oficyna Wydawnicza SGH, Warszawa, 2010. 2. Jajuga K., Statystyczna analiza wielowymiarowa. PWN, 1993.
Witryna www przedmiotu:
http://www.mechatronika.simr.pw.edu.pl
Uwagi:
brak

Efekty uczenia się