- Nazwa przedmiotu:
- Podstawy odwzorowań kartograficznych
- Koordynator przedmiotu:
- dr hab. inż. Paweł Pędzich
- Status przedmiotu:
- Obowiązkowy
- Poziom kształcenia:
- Studia I stopnia
- Program:
- Geodezja i Kartografia
- Grupa przedmiotów:
- Obieralne
- Kod przedmiotu:
- GK.SIK419
- Semestr nominalny:
- 4 / rok ak. 2014/2015
- Liczba punktów ECTS:
- 2
- Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
- 52 godz. (udział w wykładach: 15 x 1 godz.= 15 godz., udział w ćwiczeniach 15 x 1 godz. = 15 godz., przygotowanie do ćwiczeń 4 godz., realizacja ćwiczeń 8 godz., przygotowanie do zaliczeń 8 godz., 2 godz. konsultacji). Łączny nakład pracy studenta wynosi 52 godz., co odpowiada 2 punktom ECTS.
- Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
- 32 godz. (- udział w wykładach: 15 x 1 godz. = 15 godz., - udział w ćwiczeniach: 15 x 1 godz. = 15 godz., 2 godz. konsultacji.) Nakład pracy związany z zajęciami wymagającymi bezpośredniego udziału nauczyciela wynosi 32 godz., co odpowiada 1,2 punktu ECTS
- Język prowadzenia zajęć:
- polski
- Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
- 23 godz. (- udział w ćwiczeniach: 15 x 1 godz. = 15 godz., - realizacja ćwiczeń: 8 godz.). Łączny nakład pracy studenta wynosi 23 godz., co odpowiada 0.9 punktu ECTS.
- Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
-
- Wykład15h
- Ćwiczenia15h
- Laboratorium0h
- Projekt0h
- Lekcje komputerowe0h
- Wymagania wstępne:
- Student powinien posiadać podstawową wiedzę z zakresu analizy matematycznej, geometrii różniczkowej oraz funkcji zmiennych zespolonych.
- Limit liczby studentów:
- -
- Cel przedmiotu:
- Student zdobywa wiedzę z zakresu kartografii matematycznej, w szczególności o odwzorowaniach kartograficznych stosowanych w geodezji i kartografii oraz ich własnościach. Ponadto umiejętność badania własności metrycznych odwzorowań kartograficznych, projektowania map z wykorzystaniem odwzorowań posiadających jak najmniejsze zniekształcenia odwzorowawcze, doboru typu odwzorowania w zależności od przeznaczenia mapy
- Treści kształcenia:
- Wykład: Wprowadzenie do przedmiotu kartografia matematyczna, pojęcie powierzchni oryginału w odwzorowaniu kartograficznym, układy współrzędnych. Pojęcie regularnego odwzorowania powierzchni w powierzchnię i odwzorowania kartograficznego. Elementy teorii zniekształceń odwzorowań kartograficznych: skala poszczególna, skala główna i elementarna skala zniekształceń odwzorowawczych. Elementarna skala zniekształceń długości jako funkcja kąta kierunkowego. I twierdzenie Tissota – pojęcie kierunków głównych odwzorowania. II twierdzenie Tissota – pojęcie elipsy zniekształceń odwzorowawczych. Ekstremalne zniekształcenia długości w kierunkach głównych odwzorowania. Elementarna skala zniekształceń pól. Pojęcie zbieżności południków, zniekształcenia kierunków i ekstremalne zniekształcenia kątów. Redukcje odwzorowawcze. Klasyfikacja odwzorowań kartograficznych w zależności od lokalnych zniekształceń odwzorowawczych. Klasyfikacja odwzorowań kartograficznych w zależności od kształtu siatek kartograficznych – klasa odwzorowań wielostożkowych. Odwzorowania ukośne i poprzeczne. Odwzorowania rzutowe (perspektywiczne). Podstawy teoretyczne odwzorowań konforemnych: współrzędne izometryczne, twierdzenie o odwzorowaniach konforemnych, elementarna skala długości w odwzorowaniach konforemnych i zbieżność południków. Ogólna charakterystyka odwzorowań kartograficznych stosowanych w geodezji i kartografii. Odwzorowania elipsoidy obrotowej na powierzchnię kuli. Odwzorowanie Gaussa-Krügera i jego postaci analityczne. Projekt: Konstrukcja siatki kartograficznej w zadanym odwzorowaniu. Badanie charakteru zniekształceń odwzorowawczych: długości, kierunków, kątów, powierzchni. Wyznaczanie redukcji odwzorowawczych figur geodezyjnych.
- Metody oceny:
- Zaliczenie wykładu: 2 sprawdziany pisemne na wykładzie. Zaliczenie ćwiczeń: sprawdzian pisemny oraz sprawozdania z ćwiczeń.
Ocena końcowa: średnia arytmetyczna z ocen z wykładu i ćwiczeń projektowych.
- Egzamin:
- nie
- Literatura:
- 1 J. Balcerzak, J. Panasiuk: Wprowadzenie do kartografii matematycznej, Oficyna Wydawnicza PW 2005
2. Jan Panasiuk, Jerzy Balcerzak, Urszula Pokrowska „Wybrane zagadnienia z podstaw teorii odwzorowań kartograficznych” Oficyna Wydawnicza PW 2000
3. J. Różycki: Kartografia matematyczna, PWN 1973
4. Franciszek Biernacki „Podstawy teorii odwzorowań kartograficznych” 1973
5. Idzi Gajderowicz „Kartografia matematyczna dla geodetów” UWM 1999
6.. E.J. Maling: Coordinate systems and map projections, Pergamon Press, Oxford, 1992
- Witryna www przedmiotu:
- -
- Uwagi:
- Brak
Efekty uczenia się
Profil ogólnoakademicki - wiedza
- Efekt GK.SIK419_W01
- zna podstawowe cechy układów współrzędnych stosowanych w opracowaniach urzędowych w Polsce, zna zasady konstruowania siatek kartograficznych oraz zasad wyznaczania zniekształceń i określania wartości redukcji odwzorowawczych
Weryfikacja: kolokwium
Powiązane efekty kierunkowe:
K_W09
Powiązane efekty obszarowe:
T1A_W03
- Efekt GK.SIK419_W02
- zna podstawowe funkcje programów komputerowych umożliwiające przeprowadzenie obliczeń zniekształceń odwzorowawczych oraz prezentację tych zniekształceń na mapach
Weryfikacja: sprawozdanie z ćwiczeń
Powiązane efekty kierunkowe:
K_W15, K_W16
Powiązane efekty obszarowe:
T1A_W07, T1A_W05, T1A_W06, T1A_W07
Profil ogólnoakademicki - umiejętności
- Efekt GK.SIK419_U01
- Posiada umiejętność badania własności metrycznych odwzorowań kartograficznych oraz wyznaczania redukcji odwzorowawczych
Weryfikacja: kolokwium
Powiązane efekty kierunkowe:
K_U09
Powiązane efekty obszarowe:
T1A_U08, T1A_U09
- Efekt GK.SIK419_U02
- Potrafi opracować wyniki obliczeń zniekształceń odwzorowawczych oraz zaprezentować je na mapach
Weryfikacja: sprawozdanie z ćwczeń
Powiązane efekty kierunkowe:
K_U03
Powiązane efekty obszarowe:
T1A_U03
- Efekt GK.SIK419_U03
- Potrafi przeliczać współrzędne pomiędzy układami współrzędnych stosowanymi w opracowaniach urzędowych
Weryfikacja: sprawozdanie z ćwiczeń
Powiązane efekty kierunkowe:
K_U09
Powiązane efekty obszarowe:
T1A_U08, T1A_U09