Nazwa przedmiotu:
Inteligentna aparatura pomiarowa
Koordynator przedmiotu:
dr hab. inż. Roman Szewczyk prof. PW., dr inż. Stanisław Piskorski
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
IAP
Semestr nominalny:
6 / rok ak. 2014/2015
Liczba punktów ECTS:
4
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
1) Liczba godzin bezpośrednich – 49 w tym: • wykład: 30 godz. • konsultacje: 2godz. • laboratorium: 15 godz. • egzamin-2 godz. 2) Praca własna studenta – 55 godz., w tym: • przygotowanie do egzaminu: 20 godz. • przygotowanie do laboratoriów: 15 godz. • opracowanie sprawozdań: 20 godz. suma: 102 (4 ECTS)
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
2 punkty ECTS- liczba godzin bezpośrednich – 49 w tym: • wykład: 30 godz. • konsultacje: 2godz. • laboratorium: 15 godz. • egzamin-2 godz..
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
2 punkty ECTS – 52 godz. w tym: • laboratorium: 15 godz. • konsultacje: 2godz. • przygotowanie do laboratoriów: 15 godz. • opracowanie sprawozdań: 20 godz.
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład450h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium225h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wymagana jest znajomość podstaw z: fizyki, metrologii ogólnej i technicznej, elektrotechniki, miernictwa elektrycznego oraz techniki komputerowej i programowania.
Limit liczby studentów:
30
Cel przedmiotu:
Znajomość wybranych zagadnień z zakresu eksploatacji inteligentnych czujników. Znajomość przyrządów pomiarowych najnowszej generacji i systemów pomiarowych. Umiejętność organizacji przepływu informacji w inteligentnym systemie pomiarowym. Wiedza z zakresu interfejsów czujników inteligentnych. Wiedza z zakresu metodyk konstrukcji nowoczesnej apaartury pomiarowej. Wiedza z zakresu zastosowań sztucznej inteligencji w systemach pomiarowych. Wiedza z zakresu pomiarów na odległość. Wiedza z zakresu systemów ekspertowych
Treści kształcenia:
1. Czujniki inteligentne 2. Przyrządy pomiarowe najnowszej generacji 3. Inteligentne systemy pomiarowe 4. Interfejsy czujników inteligentnych – interfejsy szeregowe 5. Interfejsy czujników inteligentnych - systemy I2C BUS, HART i PROFIBUS 6. System wymiany informacji TOKENBUS oraz HP-IL 7. Pomiary zdalne 8. Transmisja danych w inteligentnych sieciach przemysłowych 9. Metodyka konstrukcji nowoczesnej aparatury pomiarowej 10. Przetwarzanie sygnałów w inteligentnych urządzeniach pomiarowych 11. Systemy ekspertowe
Metody oceny:
Egzamin z treści wykładu oraz ocena na podstawie wykonania ćwiczeń laboratoryjnych. Punktacja z egzaminu (wykład) 5 ćwiczeń lab. Waga: wykład 0,6; laboratorium 0,4
Egzamin:
tak
Literatura:
1. J. Chromiec, E. Strzemieczna: Sztuczna inteligencja. Metody konstrukcji i analizy systemów eksperckich. Akademicka Oficyna Wydawnicza PLJ, Warszawa 1995; 2. P. Lesiak: Inteligentna technika pomiarowa. Zakład Poligraficzny Politechniki Radomskiej, Radom 2001; 3. R.G. Lyons: Wprowadzenie do cyfrowego przetwarzania sygnałów. Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa 2010; 4. W. Nawrocki: Sensory i systemy pomiarowe. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań 2001; 5. W. Winiecki: Organizacja komputerowych systemów pomiarowych. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1997
Witryna www przedmiotu:
brak
Uwagi:

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt IAP_W01
Zna zasady pracy czujników inteligentncyh, przyrządów pomiarowych najnowszej generacji,inteligentnych systemów pomiarowych, przetwarzania sygnałów i przepływu informacji w inteligentnych urządzeniach pomiarowych, metodyki konstrukcji nowoczesnej aparatury pomiarowej i zasady pracy systemów ekspertowych
Weryfikacja: wykład - egzamin; laboratorium - sprawozdania
Powiązane efekty kierunkowe: K_W06, K_W07, K_W10
Powiązane efekty obszarowe: T1A_W03, T1A_W04, T1A_W03, T1A_W04, T1A_W02, T1A_W04

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt IAP_U02
Umie zaprojektować schemat funkcjonalny inteligentnego przyzrządu pomiarowego
Weryfikacja: Wykład - egzamin, laboratorium - sprawozdania
Powiązane efekty kierunkowe: K_U02
Powiązane efekty obszarowe: T1A_U02, T1A_U07