Nazwa przedmiotu:
HES - Ochrona własności intelektualnej
Koordynator przedmiotu:
mgr Agnieszka Krzemińska
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Budownictwo
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
OWINTE
Semestr nominalny:
1 / rok ak. 2015/2016
Liczba punktów ECTS:
1
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Razem 25 godz. = 1 ECTS: wykład 15 godz., przygotowanie do wykładu i zaliczenia 10 godz.
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Razem 15 godz. = 0,5 ECTS: wykład.
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Razem 10 godz. = 0,5 ECTS: przygotowanie do wykładu i zaliczenia.
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium0h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Brak
Limit liczby studentów:
Bez limitu
Cel przedmiotu:
Celem przedmiotu jest zaznajomienie studentów z systemem ochrony własności intelektualnej. Student pozna źródła prawa, ogólne pojęcia i zagadnienia z zakresu ochrony prawnej własności intelektualnej. Student będzie umiał rozróżniać rodzaje własności intelektualnej, wskazać i scharakteryzować podstawowe zagadnienia dotyczące systemu ochrony własności intelektualnej. Słuchacz będzie także miał świadomość znaczenia i zakresu stosowania ochrony własności intelektualnej.
Treści kształcenia:
Wykład ma za zadanie zapoznanie słuchaczy z najważniejszymi zagadnieniami z ochrony własności intelektualnej w zakresie prawa krajowego, takimi jak:<br> • krajowe źródła prawa ochrony własności intelektualnej;<br> • ogólne pojęcia z tematyki ochrony praw własności intelektualnej;<br> • podział praw własności intelektualnej;<br> • osobiste i materialne prawa autorskie;<br> • zdolność patentowa - wymogi uzyskania ochrony patentowej;<br> • informacja patentowa - źródła informacji, bazy danych, rodzaje badań patentowych;<br> • praktyczne przykłady funkcjonowania ochrony patentowej;<br> • ścieżka postępowania z nowym wynalazkiem.
Metody oceny:
Zaliczenie wykładu w formie testu jednokrotnego wyboru.
Egzamin:
nie
Literatura:
[1] Ustawa o prawie autorskim i prawach pokrewnych z dnia 4 lutego 1994 r. (Dz.U. Nr 24, poz. 83 ze zmianami);<br> [2] Prawo własności przemysłowej z dnia 30 czerwca 2000 r. (Dz.U. 2001 Nr 49, poz. 508 ze zmianami);<br> [3] G. Michniewicz, Ochrona własności intelektualnej, Warszawa 2012;<br> [4] J. Barta, R. Markiewicz, Prawo autorskie, Warszawa 2010;<br> [5] E. Nowińska, U. Promińska, M. du Vall, Prawo własności przemysłowej, Warszawa 2010.
Witryna www przedmiotu:
-
Uwagi:

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt OWINTEW1
Student zna system ochrony własności intelektualnej, zna źródła prawa, ogólne pojęcia i zagadnienia z zakresu ochrony prawnej własności intelektualnej. Student umie rozróżniać rodzaje własności intelektualnej, wskazywać i charakteryzować podstawowe zagadnienia dotyczące systemu ochrony własności intelektualnej. Słuchacz ma świadomość znaczenia i zakresu stosowania ochrony własności intelektualnej.
Weryfikacja: zaliczenie w formie kolokwium
Powiązane efekty kierunkowe: K2_W09
Powiązane efekty obszarowe: T2A_W10

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt OWINTEU1
Student umie zidentyfikować rodzaj dobra niematerialnego i wskazać możliwe ścieżki jego ochrony, ma świadomość znaczenia ochrony własności intelektualnej, dostrzega i definiuje rolę praw wyłącznych we współczesnym świecie.
Weryfikacja: zaliczenie w formie kolokwium
Powiązane efekty kierunkowe:
Powiązane efekty obszarowe:

Profil ogólnoakademicki - kompetencje społeczne

Efekt OWINTK01
Prawidłowo identyfikuje i rozstrzyga dylematy związane z wykonywaniem zawodu.Student umie docenić potrzebę stosowania regulacji prawnych związanych z ochroną własności intelektualnej, ma świadomość konsekwencji wkroczenia, nawet niezawinionego, w prawa wyłączne bez stosownego upoważnienia.
Weryfikacja: zaliczenie w formie kolokwium
Powiązane efekty kierunkowe: K2_K03, K2_K05
Powiązane efekty obszarowe: T2A_K05, T2A_K07, T2A_K02