- Nazwa przedmiotu:
- Inteligentna aparatura pomiarowa
- Koordynator przedmiotu:
- dr hab. inż. Roman Szewczyk prof. PW., dr inż. Stanisław Piskorski
- Status przedmiotu:
- Obowiązkowy
- Poziom kształcenia:
- Studia I stopnia
- Program:
- Mechatronika
- Grupa przedmiotów:
- Obowiązkowe
- Kod przedmiotu:
- IAP
- Semestr nominalny:
- 6 / rok ak. 2015/2016
- Liczba punktów ECTS:
- 4
- Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
- 1) Liczba godzin bezpośrednich – 49 w tym:
• wykład: 30 godz.
• konsultacje: 2godz.
• laboratorium: 15 godz.
• egzamin-2 godz.
2) Praca własna studenta – 55 godz., w tym:
• przygotowanie do egzaminu: 20 godz.
• przygotowanie do laboratoriów: 15 godz.
• opracowanie sprawozdań: 20 godz.
suma: 102 (4 ECTS)
- Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
- 2 punkty ECTS- liczba godzin bezpośrednich – 49 w tym:
• wykład: 30 godz.
• konsultacje: 2godz.
• laboratorium: 15 godz.
• egzamin-2 godz..
- Język prowadzenia zajęć:
- polski
- Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
- 2 punkty ECTS – 52 godz. w tym:
• laboratorium: 15 godz.
• konsultacje: 2godz.
• przygotowanie do laboratoriów: 15 godz.
• opracowanie sprawozdań: 20 godz.
- Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
-
- Wykład450h
- Ćwiczenia0h
- Laboratorium225h
- Projekt0h
- Lekcje komputerowe0h
- Wymagania wstępne:
- Wymagana jest znajomość podstaw z: fizyki, metrologii ogólnej i technicznej, elektrotechniki, miernictwa elektrycznego oraz techniki komputerowej i programowania.
- Limit liczby studentów:
- 30
- Cel przedmiotu:
- Znajomość wybranych zagadnień z zakresu eksploatacji inteligentnych czujników. Znajomość przyrządów pomiarowych najnowszej generacji i systemów pomiarowych. Umiejętność organizacji przepływu informacji w inteligentnym systemie pomiarowym. Wiedza z zakresu interfejsów czujników inteligentnych. Wiedza z zakresu metodyk konstrukcji nowoczesnej apaartury pomiarowej. Wiedza z zakresu zastosowań sztucznej inteligencji w systemach pomiarowych. Wiedza z zakresu pomiarów na odległość. Wiedza z zakresu systemów ekspertowych
- Treści kształcenia:
- 1. Czujniki inteligentne 2. Przyrządy pomiarowe najnowszej generacji 3. Inteligentne systemy pomiarowe 4. Interfejsy czujników inteligentnych – interfejsy szeregowe 5. Interfejsy czujników inteligentnych - systemy I2C BUS, HART i PROFIBUS 6. System wymiany informacji TOKENBUS oraz HP-IL 7. Pomiary zdalne 8. Transmisja danych w inteligentnych sieciach przemysłowych 9. Metodyka konstrukcji nowoczesnej aparatury pomiarowej 10. Przetwarzanie sygnałów w inteligentnych urządzeniach pomiarowych 11. Systemy ekspertowe
- Metody oceny:
- Egzamin z treści wykładu oraz ocena na podstawie wykonania ćwiczeń laboratoryjnych. Punktacja z egzaminu (wykład) 5 ćwiczeń lab. Waga: wykład 0,6; laboratorium 0,4
- Egzamin:
- tak
- Literatura:
- 1. J. Chromiec, E. Strzemieczna: Sztuczna inteligencja. Metody konstrukcji i analizy systemów eksperckich. Akademicka Oficyna Wydawnicza PLJ, Warszawa 1995; 2. P. Lesiak: Inteligentna technika pomiarowa. Zakład Poligraficzny Politechniki Radomskiej, Radom 2001; 3. R.G. Lyons: Wprowadzenie do cyfrowego przetwarzania sygnałów. Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa 2010; 4. W. Nawrocki: Sensory i systemy pomiarowe. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań 2001; 5. W. Winiecki: Organizacja komputerowych systemów pomiarowych. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1997
- Witryna www przedmiotu:
- brak
- Uwagi:
Efekty uczenia się
Profil ogólnoakademicki - wiedza
- Efekt IAP_W01
- Zna zasady pracy czujników inteligentncyh, przyrządów pomiarowych najnowszej generacji,inteligentnych systemów pomiarowych, przetwarzania sygnałów i przepływu informacji w inteligentnych urządzeniach pomiarowych, metodyki konstrukcji nowoczesnej aparatury pomiarowej i zasady pracy systemów ekspertowych
Weryfikacja: wykład - egzamin; laboratorium - sprawozdania
Powiązane efekty kierunkowe:
K_W06, K_W07, K_W10
Powiązane efekty obszarowe:
T1A_W03, T1A_W04, T1A_W03, T1A_W04, T1A_W02, T1A_W04
Profil ogólnoakademicki - umiejętności
- Efekt IAP_U02
- Umie zaprojektować schemat funkcjonalny inteligentnego przyzrządu pomiarowego
Weryfikacja: Wykład - egzamin, laboratorium - sprawozdania
Powiązane efekty kierunkowe:
K_U02
Powiązane efekty obszarowe:
T1A_U02, T1A_U07