Nazwa przedmiotu:
Systemy Pomiarowe 
Koordynator przedmiotu:
dr inż. Stanisław Piskorski
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
SMP
Semestr nominalny:
5 / rok ak. 2015/2016
Liczba punktów ECTS:
3
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
1) Liczba godzin bezpośrednich:49, w tym: • wykład 30 godz., • projektowanie w laboratorium 15 godz., • konsultacje – 2 godz, • egzamin – 2 godz. 2) Praca własna studenta – 40 • zapoznanie z literaturą 10 godz., • projektowanie poza laboratorium 15 godz., • przygotowanie do egzaminu 15 godz. Razem 89 godz.= 3 ECTS
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
2 punkty ECTS - Liczba godzin bezpośrednich:49, w tym: • wykład 30 godz., • projektowanie w laboratorium 15 godz., • konsultacje – 2 godz, • egzamin – 2 godz.,
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
1 Punkt ECTS - 30 godz. w tym: • projektowanie w laboratorium 15 godz, • projektowanie poza laboratorium 15 godz.
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład450h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium0h
  • Projekt225h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wiedza z zakresu przedmiotów: Podstawy automatyki, Podstawy metrologii, Elektrotechnika, Elektronika
Limit liczby studentów:
30
Cel przedmiotu:
Znajomość wybranych zagadnień z zakresu projektowania, konstrukcji oraz eksploatacji nowoczesnych systemów pomiarowych, ze szczególnym uwzględnieniem systemów przemysłowych.
Treści kształcenia:
Definicje. Klasyfikacja systemów pomiarowych.Schemat funkcjonalny systemu pomiarowego. Bloki funkcjonalne systemów pomiarowych. Wirtualne przyrządy pomiarowe. Konfiguracje systemów pomiarowych.Organizacja systemu.Praktyczne aspekty współpracy urządzeń różnych producentów. Aspekty ekonomiczne w budowie systemu pomiarowego. Wykres Gantta. Sieć Perth. Zarządzanie ryzykiem w przedsięwzięciach przemysłowych.
Metody oceny:
Egzamin z treści wykładu oraz ocena na podstawie złożonych projektów
Egzamin:
tak
Literatura:
1.W. Nawrocki „Sensory i systemy pomiarowe” WPP 2006. 2.Nawrocki „Rozproszone systemy pomiarowe” WKŁ 2006. 3.W.Winiecki “Organizacja komputerowych systemów pomiarowych” WPW 1997
Witryna www przedmiotu:
brak
Uwagi:

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt SMP_W01
Zna zasadę działania i budowę systemów pomiarowych
Weryfikacja: zdanie egzaminu
Powiązane efekty kierunkowe: K_W12
Powiązane efekty obszarowe: T1A_W02

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt SMP_U01
Potrafi zaprojektować system do pomiaru wybranych wielkości
Weryfikacja: zaliczenie projektu
Powiązane efekty kierunkowe: K_U01, K_U02, K_U13, K_U15, K_U21, K_U23
Powiązane efekty obszarowe: T1A_U01, T1A_U02, T1A_U07, T1A_U08, T1A_U16, T1A_U09, T1A_U16, T1A_U12, T1A_U15, T1A_U14