- Nazwa przedmiotu:
- Analiza sygnałów wielowymiarowych
- Koordynator przedmiotu:
- dr inż. Marcin Jasiński
- Status przedmiotu:
- Obowiązkowy
- Poziom kształcenia:
- Studia I stopnia
- Program:
- Mechatronika
- Grupa przedmiotów:
- Specjalnościowe
- Kod przedmiotu:
- 406
- Semestr nominalny:
- 7 / rok ak. 2015/2016
- Liczba punktów ECTS:
- 3
- Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
- 1. godziny kontaktowe: 15W+15L = 30h;
2. studia literaturowe: 15W = 15h;
2. przygotowanie do zajęć: 8W+5L = 13h
2. sprawozdania: 5L = 5h
3. przygotowania do kolokwium 12W = 12h;
Razem nakład pracy studenta: 30+15h+13h+5h+12h = 75h,
co odpowiada 3 punktom ECTS.
- Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
- 1,2
- Język prowadzenia zajęć:
- polski
- Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
- 1
- Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
-
- Wykład15h
- Ćwiczenia0h
- Laboratorium15h
- Projekt0h
- Lekcje komputerowe0h
- Wymagania wstępne:
- Wymagana jest znajomość podstaw analizy matematycznej i analizy sygnałów.
- Limit liczby studentów:
- zgodnie z zarządzeniem Rektora
- Cel przedmiotu:
- Celem przedmiotu jest poznanie metod analizy sygnałów wielowymiarowych, nabycie umiejętność wykonania modeli matematycznych oraz analizy sygnałów wielowymiarowych.
Zadaniem przedmiotu będzie wykorzystanie nabytych na wykładzie informacji w praktyce w laboratorium.
- Treści kształcenia:
- Wykład:
1. Architektura systemów komputerowej analizy i rozpoznawania obrazów.
2. Matematyczne modele dyskretyzacji obrazów.
3. Addytywne operatory liniowe.
4. Operatory różniczkowe.
5. Transformacja przestrzenna. Analiza kształtu.
6. Dwuwymiarowa transformata Fouriera.
7. Dwuwymiarowa transformata Hilberta. Transformata Hilberta-Huanga.
8. Inne transformacje wielowymiarowe.
9. Metoda analizy składowych głównych (PCA).
10. Rozkład macierzy względem wartości szczególnych (SVD).
11. Empiryczne modele diagnostyczne
Laboratorium:
1. Wykorzystanie matematycznych modeli w dyskretyzacji obrazów.
2. Zastosowanie transformacji przestrzennych w analizie kształtu przedmiotu.
3. Porównanie dwuwymiarowej transformaty Fouriera z przedstawicielami innych transformacji wielowymiarowych.
4. Metoda analizy składowych głównych (PCA) w analizie danych statystycznych.
5. Rozkład macierzy względem wartości szczególnych (SVD) w budowie empirycznego modelu diagnostycznego.
6. System komputerowej analizy i rozpoznawania obrazów.
- Metody oceny:
- 2 kolokwia, raporty z wykonania ćwiczeń laboratoryjnych
- Egzamin:
- nie
- Literatura:
- 1. Panek T.: Statystyczne metody wielowymiarowej analizy porównawczej. Oficyna Wydawnicza SGH, Warszawa, 2010.
2. Jajuga K., Statystyczna analiza wielowymiarowa. PWN, 1993.
- Witryna www przedmiotu:
- http://www.mechatronika.simr.pw.edu.pl
- Uwagi:
- brak
Efekty uczenia się