Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Metrologia
Koordynator przedmiotu:
WIP Prof. nzw. dr hab. inż. Tadeusz Sałaciński
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Zarządzanie i Inżynieria Produkcji
Grupa przedmiotów:
kierunkowe
Kod przedmiotu:
-
Semestr nominalny:
1 / rok ak. 2017/2018
Liczba punktów ECTS:
2
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Sumaryczna liczba godzin pracy studenta: 60, w tym: udział w wykładach - 15 h, aktywna praca w trakcie ćwiczeń - 15 h, konsultacje - 2h, przygotowanie się do ćwiczeń oraz wykonanie sprawozdań - 20, przy-gotowanie się do sprawdzianu końcowego z wykładu - 8 h.
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Punkty ECTS za zajęcia kontaktowe z nauczycielem: 1 (udział w wykładach - 15 h, aktywna praca w trakcie ćwiczeń - 15 h, konsultacje - 2h).
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Punkty ECTS za zajęcia praktyczne łącznie: 1 (przygotowanie się do ćwiczeń oraz wykonanie sprawozdań - 20, przygotowanie się do sprawdzianu końcowego z wykładu - 8 h).
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium15h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
-
Limit liczby studentów:
- od 25 osób do limitu miejsc w sali audytoryjnej (wykład) - od 25 osób do limitu miejsc w sali laboratoryjnej (laboratorium)
Cel przedmiotu:
Przekazanie podstaw teoretycznych i praktycznych dotyczących metod, zasad i procedur pomiarowych oraz obliczania błędów i szacowania niepewności pomiarowych. Przekazanie podstaw budowy narzędzi po-miarowych, analizy metod pomiarowych oraz doboru sprzętu pomiarowego. Przekazanie umiejętności dokonywania pomiarów podstawowych wielkości geometrycznych, obliczania błędów i szacowania nie-pewności pomiarowych oraz praktycznego stosowania podstawowych technik SPC (Statystycznego sterowania procesami produkcji) i MSA (Analizy zdolności systemów pomiarowych).
Treści kształcenia:
Wykład: 1. Wprowadzenie do metrologii i SPC. Podstawowe pojęcia teorii pomiarów i SPC (2h) 2. Narzędzia i metody pomiarowe (3h) 3. Błędy pomiarów i ich przyczyny (2h) 4. Szacowanie niepewności pomiarów (2h) 5. Analiza tolerancji i odchyłek. Łańcuchy wymiarowe (2h) 6. SPC – analiza zdolności procesu produkcyjnego i systemu pomiarowego (2h) 7. SPC – Karty kontrolne (2h) Laboratorium: 1. Pomiary uniwersalnymi przyrządami pomiarowymi (2h) 2. Pomiary wymiarów wewnętrznych (2h) 3. Obsługa i regulacja mikroskopu warsztatowego (2h) 4. Pomiary odchyłek kształtu (2h) 5. Pomiary kątów (2h) 6. Pomiarów z użyciem narzędzi cyfrowych (2h) 7. Pomiary gwintów zewnętrznych (2h) 8. Ćwiczenie podsumowujące (1h)
Metody oceny:
A. Wykład: 1. Ocena formatywna: interaktywna forma prowadzenia wykładu, dyskusja nad wybranymi zagadnieniami. 2. Ocena sumatywna: przeprowadzenie dwóch sprawdzianów zwierających w sumie jedno pytanie teoretyczne i dwa zadania. B. Ćwiczenia: 1. Ocena formatywna: na zajęciach na bieżąco weryfikowane jest prawidłowość wykonania ćwiczenia i umiejętność pracy w grupie. 2. Ocena sumatywna: oceniane jest przygotowanie studenta do ćwiczeń za pomocą 15-minutowej kartkówki oraz wykonanie sprawozdania końcowego. C. Końcowa ocena z przedmiotu: Przedmiot uznaje się za zaliczony jeśli zarówno ocena z wykładu jak i ćwiczeń wynosi co najmniej 3,0. Ocena końcowa z przedmiotu obliczana jest jako średnia arytmetyczna ocen z wykładu i ćwiczeń.
Egzamin:
nie
Literatura:
Obowiązkowa: Do wykładu: 1. Sałaciński T.: Elementy metrologii wielkości geometrycznych. Przykłady i zadania. OWPW. Wydanie III. Warszawa, 2013. 2. Sałaciński T.: SPC – Statystyczne sterowanie procesami produkcji. OWPW. Warszawa, 2016. Do laboratorium: 1. Sałaciński T., Misiak J.: Ćwiczenia laboratoryjne z metrologii. Skrypt OWPW. Warszawa, 2016. Uzupełniająca: 1. Jakubiec W., Malinowski J.: Metrologia wielkości geometrycznych. WNT, Warszawa, 2004. 2. Sałaciński T.: Inżynieria jakości w technikach wytwarzania. OWPW. Warszawa, 2016.
Witryna www przedmiotu:
www.electurer.edu.pl
Uwagi:
-

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt I1_W02
Ma usystematyzowaną wiedzę w zakresie metrologii: pomiaru jako źródła informacji, wielkości, pomiaru, wzorca, przyrządów pomiarowych, przetworników pomiarowych, międzynarodowego układu jednostek miar, błędu pomiaru, źródła błędów, niepewności pomiaru, wyrażania i wyznaczania niepewności pomiaru według przewodnika ISO, metrologii wielkości geometrycznych: specyfikacja geometrii wyrobów, wzorce długości i kąta, przyrządy pomiarowe i pomiary długości, kąta, odchyłek geometrycznych oraz chropowatości powierzchni, nadzorowania wyposażenia pomiarowego.
Weryfikacja: 2 sprawdziany weryfikujące pozyskaną wiedzę
Powiązane efekty kierunkowe:
Powiązane efekty obszarowe:

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt I1_U20
Ma umiejętności samokształcenia
Weryfikacja: weryfikacja rezultatów w wykonywanych ćwiczeniach i na sprawdzianach
Powiązane efekty kierunkowe:
Powiązane efekty obszarowe:
Efekt I1_U12
Potrafi korzystać z aparatury pomiarowej metrologii warsztatowej oraz metod oszacowania błędu pomiarów
Weryfikacja: weryfikacja rezultatów w wykonywanych ćwiczeniach i na sprawdzianach
Powiązane efekty kierunkowe:
Powiązane efekty obszarowe:

Profil ogólnoakademicki - kompetencje społeczne

Efekt I1_K01
Rozumie potrzebę uczenia się przez całe życie
Weryfikacja: dyskusja ze studentami w trakcie interaktywnego wykładu
Powiązane efekty kierunkowe:
Powiązane efekty obszarowe:
Efekt I1_K05
Ma doświadczenia z pracą zespołową
Weryfikacja: Weryfikacja umiejętności pracy w zespole w trakcie ćwiczeń
Powiązane efekty kierunkowe:
Powiązane efekty obszarowe: