Nazwa przedmiotu:
Modelowanie systemów pomiarowych
Koordynator przedmiotu:
dr hab. Roman Szewczyk, prof. nzw. PW, dr inż. Jacek Salach
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
brak
Semestr nominalny:
2 / rok ak. 2017/2018
Liczba punktów ECTS:
4
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
1) Liczba godzin bezpośrednich 36, w tym: a) wykład - 15 b) egzamin - 2 c) projekt - 15 d) konsultacje - 4 2) Praca własna studenta 66, w tym: a) przygotowanie do zaliczenia - 16 b) opracowanie projektu - 50 Suma: 102 (4 ECTS)
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
1) Liczba godzin bezpośrednich 34, w tym: a) wykład - 15 b) egzamin - 2 c) projekt - 15 d) konsultacje - 4 suma 36 (1,5 ECTS)
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
O charakterze praktycznym c) projekt - 15 d) konsultacje - 2 b) opracowanie projektu - 50 Suma: 67 (2,5 ECTS)
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład225h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium0h
  • Projekt225h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wstęp do technik komputerowych. Podstawy programowania. Podstawy metrologii. Miernictwo elektryczne. Inteligentna aparatura pomiarowa.
Limit liczby studentów:
30
Cel przedmiotu:
W wyniku zajęć studenci posiądą umiejętność samodzielnego zaprojektowania modelu systemu pomiarowego i analizy jego toru pomiarowego.
Treści kształcenia:
Budowa systemu. Podstawowe elementy składowe systemu - charakterystyka, sensory, przetworniki, systemy transmisji danych. Przepływ informacji w systemie pomiarowym. Zapoznanie z podstawowymi programami umożliwiającymi modelowanie systemów pomiarowych. Ocena przydatności Parametry charakteryzujące cechy użytkowe elementów składowych systemu pomiarowego np. czujnika, przetwornika, kondycjonera. Uwzględnienie ich w modelu. Wpływ zakłóceń na system pomiarowy Ogólne wytyczne projektu. Parametry znaczące - konieczne do uwzględnienia w modelu. Parametry mniejszej wagi – można nie uwzględniać w modelu. Analiza przetwarzanego sygnału w systemie pomiarowym. Charakterystyczne punkty pomiaru sygnału w systemie i ich wartości. Zapoznanie z środowiskiem (programem ) użytym do modelowania systemu pomiarowego, podstawowe funkcje. Zapoznanie i omówienie indywidualnych projektów systemu pomiarowego. Komputerowe modele podstawowych elementów systemów pomiarowych; generatory, czujniki, przetworniki. Projekt systemu pomiarowego, dobór czujników i przetworników. Wybór struktury transmisji danych w systemie. Opracowanie modelu Weryfikacja poprawności działania modelu. Analiza toru sygnału pomiarowego.
Metody oceny:
Egzamin z treścią wykładu. Zaliczenie projektowania na bazie opracowanego przez studentów projektu.
Egzamin:
tak
Literatura:
T. Szmuc, Modele i metody inżynierii oprogramowania systemów czasu rzeczywistego, UWND AGH, Kraków 2001. E. Michta, Modelowanie komunikacyjne sieciowego systemu pomiarowo-sterującego, WPZ, Zielona Góra 2000. K. Sacha: Projektowanie oprogramowania systemów wbudowanych,Politechnika Warszawska, Prace Naukowe Elektronika z. 115,Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 1996. A. M. K. Cheng: Real-Time Systems, Scheduling, Analysis, and Verification, John Wiley & Sons 2002. W. Nawrocki, Komputerowe systemy pomiarowe, Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa 2002. R. Rak, Systemy informacyjno-pomiarowe, podręcznik multimedialny, Ośrodek Kształcenia na Odległość Politechniki Warszawskiej – OKNO, Warszawa 2005. J. Gajda, M. Szyper, Modelowanie i badania symulacyjne systemów pomiarowych, Wydawnictwa AGH, Kraków 1998.
Witryna www przedmiotu:
brak
Uwagi:

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt MSP_W01
Ma uporządkowaną wiedzę na temat czujników stosowanych w urządzeniach mechatronicznych
Weryfikacja: Egzamin. realizacja projektu
Powiązane efekty kierunkowe: K_W08
Powiązane efekty obszarowe: T2A_W03, T2A_W04

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt MSP _U01
Potrafi samodzielnie opracować model układu pomiarowego oraz dokonać weryfikacji i optymalizacji działania systemu
Weryfikacja: Egzamin
Powiązane efekty kierunkowe: K_U01, K_U03, K_U12
Powiązane efekty obszarowe: T2A_U01, T2A_U04, T2A_U10, T2A_U11, T2A_U15, T2A_U16

Profil ogólnoakademicki - kompetencje społeczne

Efekt MSP _K01
Potrafi współpracować w zespole projektowym na różnych stanowiskach.
Weryfikacja: Projekt
Powiązane efekty kierunkowe: K_K01, K_K04
Powiązane efekty obszarowe: T2A_K01, T2A_K03, T2A_K04, T2A_K05