Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Kompatybilność elektromagnetyczna urządzeń i systemów
Koordynator przedmiotu:
dr hab. inż. Roman Szewczyk prof. nzw. PW; dr inż. Jacek Salach
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
KEM
Semestr nominalny:
2 / rok ak. 2017/2018
Liczba punktów ECTS:
2
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
1) Liczba godzin bezpośrednich 34, w tym: a) wykład - 15 b)projektowanie- 15 c) konsultacje - 2 d) kolokwium - 2 2) Praca własna studenta 26, w tym: a) przygotowanie do kolokwium 8, b) przygotowanie do projektu 10, c) opracowanie sprawozdań 8 suma: 60 (2ECTS)
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
1) Liczba godzin bezpośrednich 34, w tym: a) wykład - 15 b)projektowanie- 15 c) konsultacje - 2 d) kolokwium - 2 suma: 34 (1,5 ECTS)
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
O charakterze praktycznym: a)projektowanie- 15 b) przygotowanie do projektu 10, c) opracowanie sprawozdań 8 suma:33 (1,5 ECTS)
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład225h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium0h
  • Projekt225h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wstęp do technik komputerowych. Metrologia techniczna. Miernictwo elektryczne. Inteligentna aparatura pomiarowa.
Limit liczby studentów:
35
Cel przedmiotu:
Zapoznanie z problemami wzajemnego oddziaływania różnych urządzeń elektronicznych oraz systemem norm określających dopuszczalny poziom zakłóceń wytwarzanych przez urządzenia.
Treści kształcenia:
Klasyfikacja zaburzeń elektromagnetycznych. Sygnały zakłócające i ich źródła. Podstawy analizy sygnałów zakłócających. Zaburzenia w torach sygnałowych i obwodach telekomunikacyjnych. Oddziaływanie pól elektromagnetycznych na człowieka. Pomiary pola elektromagnetycznego. Dopuszczalne poziomy promieniowania. Urządze-nia pomiarowe. Metodologia badań i stanowiska pomiarowe. Harmoniczne i interharmoniczne - powstawanie i skutki ich działania. Sposoby eliminacji. Oddziaływanie na odbiorniki teleinformatyczne. Analiza widmowa. Sieci teleinformatyczne i elektryczne. Źródła zaburzeń. Fluktuacje napięcia. Zaniki sygnału. Kompensacja zakłóceń. Ekrany elektryczne i magnetyczne. Filtry sieciowe. Monitoring i analiza jakości parametrów sieci. Skutki wyładowań atmosferycznych. Metody eliminacji wyładowań lub ograniczania ich wpływu na pracę urządzeń. Ograniczniki przepięć. Ładun-ki elektrostatyczne i ich wpływ na funkcjonowanie urządzeń elektronicznych. Omówienie podstawowych norm polskich i europejskich dotyczących EMC. Metody oceny odporności urządzeń. Programy badań kompatybilności elektromagnetycznej.
Metody oceny:
Zaliczenie części wykładowej na podstawie dwóch kolokwiów, zaliczenie projektowania na podstawie oceny projektów
Egzamin:
nie
Literatura:
Charoy Alain “Zakłócenia w urządzeniach elektronicznych: zasady i porady instalacyjne”, tom 1, Źródła, sprzężenia, skutki; WNT, Warszawa 2000. Machczyński Wojciech “Wprowadzenie do kompatybilności elektromagnetycznej”, Wydaw. Politechniki Poznańskiej, Poznań 2004. Więckowski Tadeusz W. “Badania kompatybilności elektromagnetycznej urządzeń elektrycznych i elektro-nicznych”, Oficyna Wydaw. Politech. Wrocławskiej, Wrocław 2001. Clayton R. Paul “Introduction to electromagnetic compatibility”, Wiley-Interscience, 2006. Perez R. "Handbook of electromagnetic compatibility" , Academic Press, 1995.
Witryna www przedmiotu:
Brak
Uwagi:
Brak

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt KEM_W01
potrafi dobrac i zintegrować urządzenia mechatroniczne z zachowaniem kompatybilności elektromagnetycznej
Weryfikacja: kolokwium, sprawozdania
Powiązane efekty kierunkowe: K_W04
Powiązane efekty obszarowe: T2A_W07

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt KEM_U01
umie zaprojektować układy dostosowywujące urzadzenie do pracy z zachowaniem norm kompatybilności elektromagnetycnzej
Weryfikacja: kolokwium, sprawozdania
Powiązane efekty kierunkowe: K_U15, K_U18
Powiązane efekty obszarowe: T2A_U17, T2A_U19, T2A_U18