Politechnika
Warszawska

Katalog
ECTS

Nazwa przedmiotu:

Czujniki i układy pomiarowe

Koordynator przedmiotu:

dr inż. Przemysław Bibik

Status przedmiotu:

Obowiązkowy

Poziom kształcenia:

Studia II stopnia

Program:

Lotnictwo i Kosmonautyka

Grupa przedmiotów:

Specjalnościowe

Kod przedmiotu:

ML.NS662

Semestr nominalny:

2 / rok ak. 2017/2018

Liczba punktów ECTS:

2

Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:

1. Liczba godzin kontaktowych - 30, w tym: a) 15 godz. - udział w wykładach; b) 15 godz. - udział w laboratorium. 2. Praca własna studenta - 25 godzin, w tym: a) 10 godz. - praca własna polegająca na przygotowaniu do kolokwiów; b) 15 godz. - praca własna związana z przygotowaniem do laboratoriów i opracowaniem sprawozdań. Łącznie - 55 godz.

Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:

1 punkt ECTS - liczba godzin kontaktowych - 30, w tym: a) 15 godz. - udział w wykładach; b) 15 godz. - udział w laboratorium.

Język prowadzenia zajęć:

polski

Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:

1 punkt ECTS - 30 godzin, w tym: a) 15 godz. - praca własna związana z przygotowaniem do laboratoriów i opracowaniem sprawozdań, b) 15 godz. - udział w laboratorium.

Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:

• Wykład15h
• Ćwiczenia0h
• Laboratorium15h
• Projekt0h
• Lekcje komputerowe0h

Wymagania wstępne:

Podstawowe wiadomości z analizy matematycznej dotyczące różniczkowania i całkowania funkcji.

Limit liczby studentów:

-

Cel przedmiotu:

Celem przedmiotu jest zapoznanie studentów z budową systemów pomiarowych, metodami pomiaru wielkości fizycznych oraz metodami analizy wyników pomiarów.

Treści kształcenia:

Część wykładowa przedmiotu obejmuje podstawowe zagadnienia związane budową i zasadą działania systemów pomiarowych oraz analizą wyników pomiarów. Omawiane są budowy, zasady działania i właściwości typowych czujników pomiarowych, struktury układów pomiarowych, metody skalowania czujników pomiarowych oraz metody ochrony systemów pomiarowych przed zakłóceniami. Prezentowane są interfejsy i magistrale wykorzystywane w typowych układach pomiarowych, przetworniki C/A i A/C oraz zasady próbkowania i kwantowania sygnałów. Omawiane są również podstawowe metody analizy statystycznej wyników pomiarów jak: wyznaczanie średniej, mediany, kwantyli i odchylenia standardowego, tworzenie histogramów i wykresów pudełkowych. W części laboratoryjnej studenci zapoznawani są z zasadą działania, właściwościami i błędami czujników i systemów pomiarowych podstawowych wielkości fizycznych.

Metody oceny:

Zaliczenie przedmiotu wymaga zaliczenia części wykładowej oraz części laboratoryjnej. Zaliczenie części wykładowej odbywa się na podstawie oceny z 2 kolokwiów, zaliczenie części laboratoryjnej na podstawie średniej z ocen ze sprawozdań. Ocena końcowa jest średnią z oceny z kolokwium i laboratorium.

Egzamin:

nie

Literatura:

1. Lesiak P., „Komputerowa technika pomiarowa w przykładach”, 2002. 2. Osiander, R., „MEMS and microstructures in aerospace applications ”, 2006. 3. Sobkowiak A., „Metody i technika przetwarzania sygnałów w pomiarach fizycznych”, 2002. 4. Świsulski D., „Komputerowa technika pomiarowa”, 2005. 5. Zakrzewski J., „Czujniki i przetworniki pomiarowe”, 2004. Dodatkowa literatura: 1. Materiały dostarczone przez wykładowcę.

Witryna www przedmiotu:

-

Uwagi:

-

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt ML.NS662_W1

Posiada ogólną wiedzę z zakresu budowy systemów pomiarowych .
Weryfikacja: Kolokwium 1.
Powiązane efekty kierunkowe: LiK2_W06, LiK2_W09, LiK2_W10, LiK2_W14
Powiązane efekty obszarowe: T2A_W02, T2A_W02, T2A_W03, T2A_W04

Efekt ML.NS662_W2

Posiada usystematyzowaną wiedzę na temat rodzajów i właściwości czujników pomiarowych.
Weryfikacja: Kolokwium 1.
Powiązane efekty kierunkowe: LiK2_W06, LiK2_W10, LiK2_W14
Powiązane efekty obszarowe: T2A_W02, T2A_W03, T2A_W04

Efekt ML.NS662_W3

Posiada podstawową wiedzę z zakresu statystycznej analizy wyników pomiarów .
Weryfikacja: Kolokwium 2.
Powiązane efekty kierunkowe: LiK2_W01
Powiązane efekty obszarowe: T2A_W01

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt ML.NS662_U1

Potrafi wskazać czujniki i strukturę układu pomiarowego właściwe dla badanego procesu.
Weryfikacja: Sprawozdania z laboratoriów, kolokwium 1.
Powiązane efekty kierunkowe: LiK2_U03, LiK2_U07, LiK2_U08, LiK2_U09
Powiązane efekty obszarowe: T2A_U03, T2A_U07, T2A_U08, T2A_U09

Efekt ML.NS662_U2

Potrafi określić podstawowe właściwości czujnika pomiarowego na podstawie jego specyfikacji.
Weryfikacja: Sprawozdania z laboratoriów.
Powiązane efekty kierunkowe: LiK2_U01, LiK2_U06, LiK2_U10
Powiązane efekty obszarowe: T2A_U01, T2A_U06, T2A_U10

Efekt ML.NS662_U3

Potrafi wykonać proces skalowania czujnika pomiarowego.
Weryfikacja: Sprawozdania z laboratoriów.
Powiązane efekty kierunkowe: LiK2_U08
Powiązane efekty obszarowe: T2A_U08

Efekt ML.NS662_U4

Potrafi wyznaczyć podstawowe estymatory oraz wykreślić histogram i wykres pudełkowy na podstawie danych pomiarowych.
Weryfikacja: Sprawozdania z laboratoriów, kolokwium 2.
Powiązane efekty kierunkowe: LiK2_U01, LiK2_U08
Powiązane efekty obszarowe: T2A_U01, T2A_U08

Efekt ML.NS662_U5

Potrafi pracować w grupie i prezentować wyniki swojej pracy.
Weryfikacja: Sprawozdania z laboratoriów.
Powiązane efekty kierunkowe: LiK2_U01, LiK2_U02, LiK2_U03, LiK2_U07, LiK2_U08, LiK2_U10
Powiązane efekty obszarowe: T2A_U01, T2A_U02, T2A_U03, T2A_U07, T2A_U08, T2A_U10