Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Zaawansowane metody badań materiałów/ Advanced Methods of Materials Testing
Koordynator przedmiotu:
dr hab. inż. Elżbieta Jezierska, prof. PW
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Inżynieria Materiałowa
Grupa przedmiotów:
Kierunkowe
Kod przedmiotu:
ZMBM
Semestr nominalny:
1 / rok ak. 2019/2020
Liczba punktów ECTS:
3
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Wykłady (30 godzin) zawierają specjalistyczną wiedzę na poziomie zaawansowanym, co wymaga pracy własnej około 3 godziny tygodniowo na jej przyswojenie i utrwalenie. Razem 75 godzin.
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
2 punkty ECTS=Wykład 30 godzin, konsultacje z zakresu zrozumienia zaawansowanych metod badawczych, przeprowadzenie egzaminu i sprawdzenie prac egzaminacyjnych.
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład30h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium0h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wymagane przedmioty poprzedzające : Fizyka, Fizyka Ciała Stałego, Podstawy Nauki o Materiałach, Metody Badania Materiałów oraz równolegle prowadzony wykład z Krystalografii Stosowanej
Limit liczby studentów:
brak
Cel przedmiotu:
Przekazanie studentom aktualnej wiedzy w zakresie zaawansowanych metod badania materiałów, możliwości i ograniczeń różnych metod badawczych opartych na wykorzystaniu specjalistycznej aparatury do badań strukturalnych
Treści kształcenia:
Własności materiałów w skali nano-, mikro- i makro-metrycznej. Zaawansowane metody mikroskopowe, dyfrakcyjne, cieplne i spektroskopowe badania materiałów. Porównanie możliwości mikroskopii optycznej, skaningowej i transmisyjnej mikroskopii elektronowej do wybranych zastosowań. Zaawansowane metody badania własności mechanicznych,optycznych, elektrycznych i magnetycznych. Badania strukturalne materiałów nanokrystalicznych. Metody badania powierzchni. Mikroskop sił atomowych, skaningowy mikroskop tunelowy. Zaawansowane techniki dyfrakcji promieni rentgenowskich, dyfrakcji elektronów i neutronów. Zastosowanie metod mikroskopowych, dyfrakcyjnych i spektroskopowych do zaawansowanych badań strukturalnych w inżynierii materiałowej. Zastosowanie sieci odwrotnej i konstrukcji sfery Ewalda do metod dyfrakcyjnych. Wykorzystanie czynnika strukturalnego do badania przemian strukturalnych. Wysokorozdzielcza mikroskopia elektronowa. Metoda zbieżnej wiązki elektronów.
Metody oceny:
Egzamin pisemny w sesji (2-godzinny)
Egzamin:
tak
Literatura:
1. S. Jaźwiński, Instrumentalne metody badań materiałów, Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1988. 2. Z. Bojarski, Krystalografia, PWN, Warszawa 2007. 3. Z. Bojarski, H. Habla, M. Surowiec, K. Stróż, Krystalografia, PWN, Warszawa 2014. 4. L.A. Dobrzański, E. Hajduczek, Mikroskopia świetlna i elektronowa, PWN, Warszawa 1987. 5. Z. Bojarski, E. Łągiewka, Rentgenowska analiza strukturalna, PWN, Warszawa 1988.
Witryna www przedmiotu:
brak witryny
Uwagi:
Wykłady ilustrowane autorskimi wynikami badań z wykorzystaniem analizy krystalograficznej.

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Charakterystyka W1
Posiada zaawansowaną wiedzę na temat strukturalnych metod badania materiałów, dyfrakcji rentgenowskiej i transmisyjnej mikroskopii elektronowej z wykorzystaniem analizy krystalograficznej
Weryfikacja: Pozytywna ocena z egzaminu
Powiązane charakterystyki kierunkowe: IM2_W08, IM2_W05, IM2_W06
Powiązane charakterystyki obszarowe: III.P7S_WG.o, I.P7S_WG

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Charakterystyka U1
Na podstawie wiedzy nabytej w trakcie wykładu oraz przeprowadzonej analizy fachowej literatury student potrafi dobrać odpowiednią metodę do charakterystyki różnych typów materiałów i przeprowadzić charakterystykę strukturalną na poziomie zaawansowanym w oparciu o najnowsze metodyki
Weryfikacja: Pozytywna ocena z egzaminu
Powiązane charakterystyki kierunkowe: IM2_U01, IM2_U05, IM2_U08, IM2_U11, IM2_U13, IM2_U18, IM2_U19, IM2_U20
Powiązane charakterystyki obszarowe: I.P7S_UW, I.P7S_UU, III.P7S_UW.1.o, III.P7S_UW.4.o, III.P7S_UW.2.o, III.P7S_UW.3.o