Nazwa przedmiotu:
Systemy Pomiarowe
Koordynator przedmiotu:
prof.dr hab. Inż. Roman Szewczyk
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
SPP
Semestr nominalny:
7 / rok ak. 2019/2020
Liczba punktów ECTS:
3
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
1) Liczba godzin bezpośrednich: 49, w tym: • wykład: 30 godz. • laboratorium: 15 godz. • konsultacje – 2 godz. • egzamin – 2 godz. 2) Praca własna studenta -30 godz., w tym: • studia literaturowe, przygotowanie do egzaminu 20 godz., • opracowanie sprawozdań z ćwiczeń: 10 godz. Razem: 79 godz (3 ECTS).
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
2 punkty ECTS - Liczba godzin bezpośrednich: 49, w tym: • wykład: 30 godz. • laboratorium: 15 godz. • konsultacje – 2 godz
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
1 punkt ECTS – 27 godz. w tym: • opracowanie sprawozdań z ćwiczeń: 10 godz. • laboratorium: 15 godz. • konsultacje – 2 godz.
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład30h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium15h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Podstawy informatyki i metrologii
Limit liczby studentów:
30
Cel przedmiotu:
Znajomość wybranych zagadnień z zakresu projektowania, konstrukcji oraz eksploatacji nowoczesnych systemów pomiarowych, ze szczególnym uwzględnieniem systemów przemysłowych.
Treści kształcenia:
Definicje. Klasyfikacja systemów pomiarowych. Schemat funkcjonalny systemu pomiarowego. Bloki funkcjonalne systemów pomiarowych. Wirtualne przyrządy pomiarowe. Konfiguracje systemów pomiarowych.Organizacja systemu. Praktyczne aspekty współpracy urządzeń różnych producentów. Aspekty ekonomiczne w budowie systemu pomiarowego. Wykres Gantta. Sieć Perth. Zarządzanie ryzykiem w przedsięwzięciach przemysłowych.
Metody oceny:
Suma punktów z egzaminu (50%) i laboratorium (50%). 
Egzamin:
tak
Literatura:
1. W. Nawrocki „Sensory i systemy pomiarowe” WPP 2006. 2. Nawrocki „Rozproszone systemy pomiarowe” WKŁ 2006. 3. K. Hejn, A. Leśniewski, Systemy pomiarowe, OWPW, 2017
Witryna www przedmiotu:
brak
Uwagi:
Przedmiot ten zastąpił w programie specjalności LPP - Laserowe przetworniki Pomiarowe

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Charakterystyka LPP_W01
zna laserowy sprzęt pomiarowy
Weryfikacja: egzamin
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_W10, K_W12
Powiązane charakterystyki obszarowe: P6U_W, I.P6S_WG.o, III.P6S_WG
Charakterystyka LPP_W02
zna metodykę pomiarów laserowych
Weryfikacja: egzamin, laboratorium
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_W10, K_W11
Powiązane charakterystyki obszarowe: P6U_W, I.P6S_WG.o, III.P6S_WG

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Charakterystyka LPP_U01
Umie przeprowadzić pomiar długości i kata z wykorzystaniem techniki laserowej
Weryfikacja: laboratorium
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_U10, K_U11, K_U12
Powiązane charakterystyki obszarowe: P6U_U, I.P6S_UW.o, III.P6S_UW.o, I.P6S_UK