Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Podstawy pomiarów współrzędnościowych
Koordynator przedmiotu:
Prof. dr hab. inż. Marek Dobosz
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
PPW
Semestr nominalny:
4 / rok ak. 2019/2020
Liczba punktów ECTS:
3
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
1) Liczba godzin bezpośrednich – 34, w tym: • wykład 15 godz., • ćwiczenia laboratorium 15 godz, • konsultacje -2 godz. • egzamin – 2 godz. 2) Praca własna studenta - 43 godz., w tym: • przygotowanie do zajęć laboratoryjnych 5 godz, • zapoznanie się z literaturą 10 godz., • opracowanie sprawozdań 10 godz., • przygotowanie do zaliczeń 10 godz. • przygotowanie się do egzaminu -8 godz. Razem 77 godz. – 3 punkty ECTS
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
1,5 punktu ECTS- Liczba godzin bezpośrednich – 34, w tym: • wykład 15 godz., • ćwiczenia laboratorium 15 godz, • konsultacje -2 godz. • egzamin – 2 godz.
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
1,5 punktu ECTS – 47 godz, w tym: • opracowanie sprawozdań 10 godz., • przygotowanie do zaliczeń 10 godz. • ćwiczenia laboratorium 15 godz, • konsultacje -2 godz.
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium15h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Podstawy metrologii, Pomiary i analiza wymiarowa, Miernictwo elektryczne i elektroniczne, Podstawy inżynierii fotonicznej. Wymagana znajomość podstaw projektowania urządzeń mechatroniki, podstaw technik wytwarzania oraz podstaw automatyki, robotyki i informatyki.
Limit liczby studentów:
350
Cel przedmiotu:
Znajomość budowy, działania i własności metrologicznych urządzeń pomiarowych oraz procedur i technik pomiarowych, ukierunkowanych na pomiary i kontrolę wymiarową, w tym mikro- i makrogeometrię powierzchni przedmiotów stosowanych przemyśle maszynowym, precyzyjnym, motoryzacyjnym, lotniczym, aparaturowym i sprzętu gospodarstwa domowego. Umiejętność wyboru właściwej metody pomiarowej do rozwiązania problemu z zakresu metrologii wymiarowej.
Treści kształcenia:
Wykład: Analogowe przetworniki przemieszczeń. Enkodery przyrostowe i kodowe, liniowe i kątowe.Interferometry laserowe. Współrzędnościowe maszyny pomiarowe. Roboty i centra pomiarowe. Ramiona pomiarowe.Tomografia komputerowa. Metody i urządzenia do pomiarów odchyłek kształtu oraz mikrogeometrii powierzchni. Laboratorium: Pomiary struktury geometrycznej powierzchni za pomocą profilometrów. Pomiary odchyłek okrągłości, metodami bezodniesieniowymi - analiza sygnału cyfrowego przy różnej filtracji i powiększeniu. Wyznaczenie niedokładności pomiaru Pomiary precyzyjnego elementu metodą pojedynczych punktów w trybie manulanym i CNC na WMP. Pomiary elementu złożonego metodą skaningową. Wyznaczenie wynikowych wymiarów złożonego elementu maszynowego na podstawie pomiarów dokonanych na mikroskopie warsztatowym. Wyznaczenie wynikowych wymiarów złożonego elementu maszynowego na podstawie pomiarów dokonanych przy użyciu wysokościomierza.
Metody oceny:
Laboratorium: Sprawdziany wstępne przed każdym ćwiczeniem. Zalicza ustalona liczba uzyskanych punktów za sprawdzian i za sprawozdanie z ćwiczenia. Wykład egzamin testowy.
Egzamin:
tak
Literatura:
1. W.Jakubiec, J.Malinowski: „Metrologia wielkości geometrycznych”. WNT. Warszawa, 2004. 2. E.Ratajczyk: „Współrzędnościowa technika pomiarowa”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa,2005. 3. J.Arendarski, J.Gliwa-Gliwiński, Z.Jabłoński, E.Ratajczyk, J.Tomasik, S.Żebrowska-Łucyk: „Sprawdzanie przyrządów do pomiaru długości i kąta”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa, 2003. 4. J.Arendarski: „Niepewność pomiarów”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa, 2003. 5. M.Wieczorowski, A.Cellary, J.Chajda: Przewodnik po pomiarach nierówności powierzchni czyli o chropowatości i nie tylko”. Wyd. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych. Politechnika Poznańska. Poznań, 2003. 6. Liubimov V., Oczoś K.: „Struktura geometryczna powierzchni”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej. Rzeszów, 2003.
Witryna www przedmiotu:
https://ects.coi.pw.edu.pl/
Uwagi:
Brak

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Charakterystyka PPW_W01
Znajomość budowy, działania i własności metrologicznych urządzeń pomiarowych wielkości geometrycznych
Weryfikacja: Zaliczenie egzaminu
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_W11
Powiązane charakterystyki obszarowe: P6U_W, I.P6S_WG.o
Charakterystyka PPW_W02
Znajomość budowy przetworników pomiarowych wielkości geometrycznych stosowanych w urządzeniach mechatroniki
Weryfikacja: Egzamin
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_W11
Powiązane charakterystyki obszarowe: P6U_W, I.P6S_WG.o

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Charakterystyka PPW_U01
Opanowanie procedur i technik w zakresie realizacji pomiarów wielkości geometrycznych
Weryfikacja: Zaliczenie ćwiczeń laboratoryjnych
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_U13, K_U15
Powiązane charakterystyki obszarowe: P6U_U, III.P6S_UW.o
Charakterystyka PPW_U02
Opanowanie podstawowych umiejętności w zakresie opracowania wyników pomiarów w szczególności wielkości geometrycznych
Weryfikacja: Zaliczenie ćwiczeń laboratoryjnych
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_U11, K_U13
Powiązane charakterystyki obszarowe: P6U_U, I.P6S_UK, III.P6S_UW.o

Profil ogólnoakademicki - kompetencje społeczne

Charakterystyka PPW_K01
Potrafi współpracować w zespole
Weryfikacja: Zaliczenie laboratorium
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_K04
Powiązane charakterystyki obszarowe: P6U_K, I.P6S_KO, I.P6S_KR