Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Transmisyjna mikroskopia elektronowa/ Transmission Electron Microscopy
Koordynator przedmiotu:
dr hab. inż. Elżbieta Jezierska, prof. PW
Status przedmiotu:
Fakultatywny dowolnego wyboru
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Inżynieria Materiałowa
Grupa przedmiotów:
Obieralne
Kod przedmiotu:
TRMIEL
Semestr nominalny:
2 / rok ak. 2020/2021
Liczba punktów ECTS:
2
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
60 godz, w tym obecność na wykładach - 15 godz, udział w ćwiczeniach - 15 godz. oraz samodzielna praca studenta - 30 godz. (utrwalenie materiału wykładowego, przygotowanie do kolokwium zaliczeniowego)
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
1
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia15h
  • Laboratorium0h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Znajomość zagadnień z Metod Badania Materiałów i Krystalografii Stosowanej
Limit liczby studentów:
brak limitu
Cel przedmiotu:
Zapoznanie studentów z aktualnymi możliwościami transmisyjnych mikroskopów elektronowych do zaawansowanych badań strukturalnych.
Treści kształcenia:
Eksperyment rozproszeniowy na transmisyjnym mikroskopie elektronowym. Techniki TEM (jasne pole, ciemne pole, słaba wiązka, HRTEM, dyfrakcja elektronów, wielokrotne ciemne pole, zbieżna wiązka elektronów CBED, LACBED. Preparatyka próbek do badań TEM. Dyfrakcja elektronów (prawo Bragga, geometryczny warunek dyfrakcji, sieć odwrotna, sfera Ewalda, efekty kształtu). Metody badań strukturalnych na przykładzie materiałów nanokrystalicznych w TEM. Spektrometr energodyspersyjny EDS. Badanie składu chemicznego cienkich folii w TEM. Badanie stopnia krystaliczności (monokryształy, polikryształy, materiały nanokrystaliczne, materiały amorficzne). Badanie koherentnych wydzieleń, bliźniaków, dyslokacji, kontrast dyfrakcyjny TEM, kontrast rozproszeniowy, kontrast fazowy. Określanie natury defektów strukturalnych. Rozpoznawanie domen antyfazowych. Badanie materiałów magnetycznych w TEM. Wyznaczanie stałej kamery TEM, identyfikacja fazowa metodą TEM-procedura Badanie orientacji kryształu, badanie symetrii, badanie tekstury- dyfrakcja elektronów Badania TEM na przekrojach poprzecznych materiałów warstwowych. Aktualne możliwości transmisyjnych mikroskopów elektronowych. Nowoczesne techniki badawcze. Wysokorozdzielcza transmisyjna mikroskopia elektronowa HRTEM.
Metody oceny:
Kolokwium zaliczeniowe na zakończenie wykładu oraz ocena aktywności na zajęciach
Egzamin:
nie
Literatura:
1. S. Jaźwiński, Instrumentalne metody badań materiałów, Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1988. 2. Z. Bojarski, H. Habla, M. Surowiec, Materiały do nauki krystalografii, PWN, Warszawa 1986. 3. Z. Bojarski, H. Habla, M. Surowiec, K. Stróż, Krystalografia, PWN, Warszawa 1996. 4. L.A. Dobrzański, E. Hajduczek, Mikroskopia świetlna i elektronowa, PWN, Warszawa 1987.
Witryna www przedmiotu:
brak witryny
Uwagi:
Dobór materiałów ilustracyjnych i omawianych technik badawczych dostosowany do potrzeb studentów w zależności od tematyki prac dyplomowych. Wybrane zagadnienia demonstrowane za pomocą transmisyjnego mikroskopu elektronowego

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Charakterystyka TEM_W1
Posiada wiedzę na temat zaawansowanych strukturalnych metod badania materiałów w transmisyjnej mikroskopii elektronowej
Weryfikacja: Pozytywna ocena z kolokwium zaliczeniowego
Powiązane charakterystyki kierunkowe: IM2_W04, IM2_W06, IM2_W08, IM2_W11
Powiązane charakterystyki obszarowe: III.P7S_WG.o, I.P7S_WG

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Charakterystyka TEM_U1
Potrafi dobrać odpowiednią metodę transmisyjnej mikroskopii elektronowej do charakterystyki różnych typów materiałów
Weryfikacja: Pozytywna ocena z kolokwium zaliczeniowego
Powiązane charakterystyki kierunkowe: IM2_U01, IM2_U10, IM2_U13, IM2_U18, IM2_U21
Powiązane charakterystyki obszarowe: I.P7S_UW, III.P7S_UW.3.o, III.P7S_UW.2.o, III.P7S_UW.1.o, III.P7S_UW.4.o

Profil ogólnoakademicki - kompetencje społeczne

Charakterystyka TEM_K1
Potrafi zainspirować innych do większego zaangażowania w zdobywaniu wiedzy
Weryfikacja: Aktywność na wykładach, poruszanie intrygujących problemów oraz propagowanie nowych źródeł informacji
Powiązane charakterystyki kierunkowe: IM2_K01
Powiązane charakterystyki obszarowe: I.P7S_KK, I.P7S_KO