Nazwa przedmiotu:
Kalibracja Systemów pomiarowych
Koordynator przedmiotu:
dr inż. Maciej Sieniło
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
KAUP
Semestr nominalny:
7 / rok ak. 2020/2021
Liczba punktów ECTS:
2
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów kształcenia:
1) Liczba godzin bezpośrednich – 32, w tym: • wykład 15 godz., • laboratorium 15 godz., • konsultacje 2 godz. 2)Praca własna – 27 godz. • analiza literatury 5 godz. • przygotowanie do zaliczeń w ramach wykładu 10 godz. • opracowanie sprawozdań z ćwiczeń laboratoryjnych 12 godz. Razem 59 godz. (2 ECTS)
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
2 punkty ECTS - liczba godzin bezpośrednich – 32, w tym: • wykład 15 godz., • laboratorium 15 godz., • konsultacje 2 godz.
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
1 punkty ECTS – 27 godz., w tym: • opracowanie sprawozdań z ćwiczeń laboratoryjnych 12 godz. • laboratorium 15 godz.,
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium15h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wiedza na temat pomiaru wielkości geometrycznych za pomocą uniwersalnego wyposażenia pomiarowego wraz z metodyką szacowania niepewności pomiarów. Wskazane jest zaliczenie wcześniej następujących przedmiotów: Podstawy metrologii, Metrologia techniczna i Analiza wyników pomiarów.
Limit liczby studentów:
30
Cel przedmiotu:
Poznanie uwarunkowań obowiązkowej i fakultatywnej atestacji przyrządów pomiarowych. Poznanie zasad wykonywania i dokumentowania wzorcowania przyrządów pomiarowych. Nabycie umiejętności w zakresie wzorcowania i dokumentowania wyników wzorcowania wybranych przyrządów do pomiaru długości i kąta.
Treści kształcenia:
Zakres wykładu: 1. Jednolitość miar: Rola administracji państwowej w zakresie zapewnienia jednolitości miar. 2. Prawna kontrola metrologiczna przyrządów pomiarowych: Akty prawne. Formy prawnej kontroli metrologicznej. Przyrządy podlegające prawnej kontroli metrologicznej. 3. Dobrowolna kontrola metrologiczna wyposażenia pomiarowego – wzorcowanie przyrządów pomiarowych. Akredytowane laboratoria wzorcujące. Polityka PCA w zakresie spójności pomiarowej. Niezbędne informacje i dane, które powinny być zawarte w świadectwie wzorcowania. Ogólne zasady opracowywania procedur wzorcowania. 4. Metodyka wzorcowania płytek wzorcowych kl. dokładności: 0, 1 i 2: Właściwości płytek wzorcowych. Procedura wzorcowania płytek wzorcowych. Szacowanie niepewności pomiaru. Zasady określania klasy dokładności płytek. 5. Metodyka wzorcowania wybranych przyrządów suwmiarkowych i mikrometrycznych: Właściwości metrologiczne przyrządów suwmiarkowych i mikrometrycznych objęte procesem wzorcowania. Metody wyznaczania błędów wskazań. Sporządzanie budżetów niepewności pomiaru przy wzorcowaniu. 6. Metodyka wzorcowania wybranych przyrządów czujnikowych: Właściwości metrologiczne przyrządów czujnikowych. Metody wyznaczania błędów wskazań. Sporządzanie budżetów niepewności pomiaru. 7. Metodyka wzorcowania kątomierzy i kątowników płaskich: powierzchniowych i krawędziowych. Właściwości metrologiczne. Procedury wzorcowania. Budżety niepewności. Zakres ćwiczeń laboratoryjnych: 1. Wzorcowanie płytek wzorcowych kl. 1. lub 2. o długościach nominalnych do 100 mm. 2. Wzorcowanie płaskich i płasko-równoległych płytek interferencyjnych. 3. Wzorcowanie suwmiarek dwustronnych analogowych lub elektronicznych. 4. Wzorcowanie mikrometrów zewnętrznych analogowych lub elektronicznych. 5. Wzorcowanie przyrządów czujnikowych.. 6. Wzorcowanie mikroskopów pomiarowych. 7. Wzorcowanie kątowników powierzchniowych i krawędziowych. Wykonanie każdego ćwiczenia obejmuje opracowanie pełnej dokumentacji wzorcowania, włącznie ze świadectwem wzorcowania.
Metody oceny:
Sprawdziany pisemne z wiedzy przedstawionej na wykładach. Sprawdziany pisemne lub ustne przed rozpoczęciem zajęć laboratoryjnych. Ocena poziomu wykonania ćwiczeń laboratoryjnych i jakości sprawozdań.
Egzamin:
nie
Literatura:
1. Tomasik J. i inni: Sprawdzanie przyrządów pomiarowych, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2003 2. Arendarski J.: Niepewność pomiarów, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2006 3. Piotrowski J., Kostyrko K.: Wzorcowanie aparatury pomiarowej, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 2000 4. Ustawa z dnia 11 maja 2001 r. Prawo o miarach (Dz. U. Nr 63, poz.636, z późniejszymi zmianami) 5. Ustawa z dnia 30 sierpnia 2002 r. o systemie oceny zgodności, (Dz. U. Nr 166 poz.1360., z późniejszymi zmianami)
Witryna www przedmiotu:
brak
Uwagi:

Efekty przedmiotowe

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt AAP_W01
Zna uwarunkowania obowiązkowej i fakultatywnej atestacji przyrządów pomiarowych.
Weryfikacja: Sprawdzian podczas zajęć wykładowych
Efekt AAP_W02
Zna zasady wykonywania i dokumentowania wzorcowań przyrządów pomiarowych, zgodnie z wymaganiami PCA dotyczącymi kompetencji technicznych laboratoriów wzorcujących oraz zna procedury wzorcowania wybranych przyrządów pomiarowych.
Weryfikacja: Sprawdzian podczas zajęć wykładowych i ocena wykonania ćwiczeń laboratoryjnych.

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt AAP_U01
Potrafi wykonać wzorcowanie wybranego przyrządu do pomiaru długości lub kąta i udokumentować wyniki wzorcowania, czyli sporządzić protokół wzorcowania, przeprowadzić analizę niepewności pomiarów i opracować świadectwo wzorcowania.
Weryfikacja: Ocena poziomu wykonania ćwiczeń laboratoryjnych i jakości sprawozdań

Profil ogólnoakademicki - kompetencje społeczne

Efekt AAP_K01
Potrafi pracować w zespole podczas planowania zadań, przeprowadzania eksperymentu fizycznego i wnioskowania.
Weryfikacja: Ocena przebiegu zajęć laboratoryjnych i uzyskanych wyników