Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Sensors and Measuring devices
Koordynator przedmiotu:
Marek Dobosz, Anna Ostaszewska-Liżewska, Michał Jankowski, Tomasz Kowaluk
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Mechatronics
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
SEMD
Semestr nominalny:
6 / rok ak. 2020/2021
Liczba punktów ECTS:
5
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
1) Liczba godzin bezpośrednich – 75 godz. • wykład: 45 godz. • laboratorium: 15 godz. • projektowanie: 15 godz. 2) Praca własna studenta - 45 godz., w tym: • przygotowanie do egzaminu:15 godz. • przygotowanie do laboratoriów: 10 godz. • opracowanie sprawozdań: 20 godz. Suma: 120 (5 ECTS)
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
3 punktu ECTS - Liczba godzin bezpośrednich – 75 godz. • wykład: 45 godz. • laboratorium: 15 godz. • projektowanie: 15 godz.
Język prowadzenia zajęć:
angielski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
2 punkty ECTS – 45 godz., w tym: • udział w laboratorium: 15 godz. • przygotowanie do laboratoriów: 10 godz. • opracowanie sprawozdań: 20 godz.
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład45h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium15h
  • Projekt15h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wymagana jest znajomość wybranych zagadnień z zakresu podstaw konstrukcji urządzeń precyzyjnych, podstaw elektrotechniki i elektroniki, napędów elektrycznych
Limit liczby studentów:
30
Cel przedmiotu:
Poznanie zasad stosowania narzędzi symulacyjnych w praktyce inżynierskiej. Umiejętność wykorzystywania modeli symulacyjnych wybranych podzespołów urządzeń precyzyjnych i drobnych. Znajomość wybranych języków symulacji obiektów dynamicznych.
Treści kształcenia:
Modele wykorzystywane w pracach badawczych i inżynierskich – wprowadzenie: Podstawowe pojęcia z zakresu modelowania i symulacji systemów dynamicznych; charakterystyka i systematyka zmiennych. Wybrane języki symulacyjne: Języki symulacji komputerowej - narzędzia symulacyjne. Zasady budowy i syntezy modeli symulacyjnych. Pakiety AMIL i MATLAB/SIMULINK.Modele siłowników: Zasady modelowania układów napędowych z mikrosilnikami elektrycznymi skokowymi i prądu stałego. Modele struktur mechanicznych: modele typowych zjawisk mechanicznych; Redukcja układów mechanicznych (układy sztywne i sprężyste). Laboratorium: 5 ćwiczeń: model mikrosilnika prądu stałego (2x), model prostego układu napędowego z zamianą ruchu, model silnika skokowego, model układu napędowego z elementem podatnym.
Metody oceny:
Wykład – 2 kolokwia – każde z kolokwiów ma postać 4-5 pytań wymagających opracowania modelu matematycznego lub przedstawienia opisu zjawisk. Ćwiczenia laboratoryjne na podstawie sprawozdań.
Egzamin:
tak
Literatura:
• "Coordinate Measuring Machine History – Fifty Years of CMM History leading up to a Measuring Revolution", COORD3 Metrology Archived 2013-09-08 at the Wayback Machine. Accessed 23 August 2013 • Renishaw: Biography • "WIZprobe Kit". nextec-wiz.com. Archived from the original on 2010-11-01. Retrieved 2010-06-26. • "Laser Scanners". HexagonMetrology.us. Retrieved 2013-04-23. • "Chromatic White Light (CWS)". HexagonMetrology.us. Retrieved 2013-04-23. • Hansen H.N.; Carneiro K.; Haitjema H.; De Chiffre L. (2006). "Dimensional Micro and Nano Metrology". CIRP Annals, 55-2, 721–743. • Weckenmann A.; Peggs G.; Hoffmann J. (2006). "Probing systems for dimensional micro- and nano-metrology". Measurement Science and Technology. Meas. Sci. Technol. 17, 504–509. 17 (3): 504. Bibcode:2006MeScT..17..504W. doi:10.1088/0957-0233/17/3/S08. • M.B. Bauza; R.J. Hocken; S.T. Smith; S.C. Woody (2005). "The development of a virtual probe tip with application to high aspect ratio microscale features". Rev. Sci Instrum, 76 (9) 095112. • "OGP Multi-Sensor Technology". www.ogpnet.com. Retrieved 2017-01-10.[permanent dead link] • Optical Metrology – A Guide to the Advances in the Field: https://www.azonano.com/article.aspx?ArticleID=4821 • https://pdfgoal.com/downloads/handbook_of_optical_dimensional_metrology • K.P. Birch i M.J.Downs: „An updated Edlén Equation for the Refractive Index of Air” „Metrologia” 30 (1993) • K.P. Birch i M.J.Downs: "Correction to the updated Edlén equation for the refractive index of air,"„Metrologia” 31 (1994) • http://emtoolbox.nist.gov/Wavelength/Documentation.asp#AppendixA • Hecht E; Optics; Addison-Weslay; 1998 • Pedrotti F. L; Pedrotti L.S.Introduction to optics Prentence-Hall, Inc; 1993 • https://www.slideserve.com/natane/renishaw-scanning-technology • https://www.google.com/search?q=coordinate+measuring+machines+probes&client=firefox-b-d&sxsrf=AOaemvLlW270RThGafE48mTlMoQBHMGPXw:1632951644372&source=lnms&tbm=isch&sa=X&ved=2ahUKEwj-u8r1kqXzAhXK_CoKHcejCVkQ_AUoAnoECAEQBA&biw=846&bih=829&dpr=1.13#imgrc=PzmHaN98oH3GUM&imgdii=7bTSqTASoqOsrM • Handbook of Optical Dimensional Metrology - Google Książki • https://www.pdfdrive.com/handbook-of-optical-dimensional-metrology-e168317563.html • Benzaid, O. and Bird, B.M. (1993), ‘Interpolation techniques for incremental encoders’. Proceedings of the 23rd Int. Intelligent Motion Conf ., 22–24 June, 165–172. • High-resolution laser transducer of linear displacements” – Marek Dobosz, Optical Engineering 31(3), 500-504 (March 1992) • „Application of a divergent laser beam in a grating interferometer for high-resolution displacement measurements” – Marek Dobosz, Optical Engineering 33(3), 897-901 (1994) • „Application of a focused laser beam in a grating interferometer for high-resolution displacement measurements” – Marek Dobosz, Optical Engineering 38(6), 958-967 (June 1999) • University) (2008)‘Miniaturised optical encoder’. Proceedings of the SPIE Vol.7068 70680M1. • ChipEncoder™ (2004),’ Integrated encoder (MicroE)’, 23 February 2004, http://www.designnews.com/author.asp?section_id=1386&doc_id=223445. • Dürschmid, F. (1993), UntersuchungenzurMesssignalerzeugung und Messsignal vera rbeitunginkrementalerLangenmesssystemeunterbesondererBerucksichtigung der analyse und Reduzierungsystematischer und zufalligerMessabweichungen.PhD thesis.TechnischenUniversit ä tIllmenau, http://home.arcor.de/manfred.duerschmid/beruf/dissertation.pdf. • Fan, K.-C. Bor-Cheng Lee and Yi-Cheng Chung (2008), ‘A planar laser diffraction encoder in Littrow confi guration for 2D nanometric positioning’. Japanese Journal of Applied Physics , 47 , 1833–7. • Gribble, A.P and Robert, I. (Renishaw) (2011), ‘Absolute encoder setup indication’. Patent No. US 2011/0173832 A1 , Issue date: 21 July 2011, related to the Renishaw • RESOLUTE™ absolute encoder. • Hagiwara, N. (1992), ‘A method of improving the resolution and accuracy of rotary encoders using a code compensation technique’. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement , 41 (1), 98–101. • Fan, K.-C. Bor-Cheng Lee and Yi-Cheng Chung (2008), ‘A planar laser diffraction encoder in Littrow confi guration for 2D nanometric positioning’. Japanese Journal of Applied Physics , 47 , 1833–7. • Gribble, A.P and Robert, I. (Renishaw) (2011), ‘Absolute encoder setup indication’. Patent No. US 2011/0173832 A1 , Issue date: 21 July 2011, related to the Renishaw • RESOLUTE™ absolute encoder. • K.P. Birch i M.J.Downs: "Correction to the updated Edlén equation for the refractive index of air,"„Metrologia” 31 (1994) • http://emtoolbox.nist.gov/Wavelength/Documentation.asp#AppendixA Hecht E; Optics; Addison-Weslay; 1998 • Pedrotti F. L; Pedrotti L.S.Introduction to optics Prentence-Hall, Inc; 1993 • https://www.slideserve.com/natane/renishaw-scanning-technology • https://www.google.com/search?q=coordinate+measuring+machines+probes&client=firefox-b d&sxsrf=AOaemvLlW270RThGafE48mTlMoQBHMGPXw:1632951644372&source=lnms&tbm=isch&sa=X&ved=2ahUKEwj-u8r1kqXzAhXK_CoKHcejCVkQ_AUoAnoECAEQBA&biw=846&bih=829&dpr=1.13#imgrc=PzmHaN98oH3GUM&imgdii=7bTSqTASoqOsrM
Witryna www przedmiotu:
brak
Uwagi:

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Charakterystyka SPU_W_01
zna zasady budowy modeli silników prądu stałego. silników skokowych i zespołów transmisji
Weryfikacja: egzamin
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_W14
Powiązane charakterystyki obszarowe: P6U_W, I.P6S_WG.o, III.P6S_WG
Charakterystyka SPU_W_02
Zna zasady budowy programów symulacyjnych w środowisku Matlab/simulink i AMIL
Weryfikacja: Cwiczenia laboratoryjne
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_W06
Powiązane charakterystyki obszarowe: P6U_W, I.P6S_WG.o, III.P6S_WG

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Charakterystyka SPU_U_01
Umie zbudować model matematyczny i symulacyjny układu napędowego z silnikiem prądu stałego lub silnikiem skokowym
Weryfikacja: egzamin i ćwiczenia laboratoryjne
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_U06, K_U10
Powiązane charakterystyki obszarowe: P6U_U, I.P6S_UW.o, III.P6S_UW.o
Charakterystyka SPU_U_02
Umie przedstawić raport dotyczący opracowania, uruchomienia i zastosowania modewlu symulacyjnego układu napędowego
Weryfikacja: ocena sprawozdań zx ćwiczeń laboratoryjnych
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_U02
Powiązane charakterystyki obszarowe: P6U_U, I.P7S_UW.o, I.P6S_UK