Nazwa przedmiotu:
Laboratorium Zaawansowanych Metod Badania Materiałów
Koordynator przedmiotu:
Dr hab. inż. Elżbieta Jezierska (WIM)
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Technologia Chemiczna
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
-
Semestr nominalny:
2 / rok ak. 2014/2015
Liczba punktów ECTS:
3
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Oprócz zajęć laboratoryjnych (30 godzin) wymagane jest przygotowanie do laboratorium, opracowanie sprawozdania z każdego laboratorium, obejmującego procedurę określonej metody badawczej, wyniki i wnioski (4 godz. tygodniowo). Razem 90 godzin.
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
1,5 punktu ECTS= 40 godzin obejmuje obowiązkowy udział w zajęciach, opracowanie problemu badawczego, konsultacje w ramach przedmiotu.
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Wprowadzenie do ćwiczeń - 2 godziny, ćwiczenia w laboratorium 28 godzin, przygotowanie do ćwiczeń laboratoryjnych 15 godzin, samodzielne rozwiązanie zadań problemowych i opracowanie sprawozdania 15 godzin. Razem 60 godzin= 2 punkty ECTS
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład0h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium45h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wymagane przedmioty poprzedzające : Fizyka, Fizyka Ciała Stałego, Podstawy Nauki o Materiałach, Metody Badania Materiałów, Krystalografia Stosowana, Zaawansowane Metody Badania Materiałów-wykład
Limit liczby studentów:
-
Cel przedmiotu:
Przekazanie studentom aktualnej wiedzy w zakresie zaawansowanych metod badania materiałów, możliwości i ograniczeń różnych metod badawczych opartych na wykorzystaniu specjalistycznej aparatury do badań strukturalnych. Nabycie przez studentów umiejętności zaplanowania badań strukturalnych oraz ich opracowania.
Treści kształcenia:
Metody mikroskopowe, dyfrakcyjne i spektroskopowe badania materiałów. Badania strukturalne materiałów nanokrystalicznych. Zastosowanie metod mikroskopowych, dyfrakcyjnych i spektroskopowych do zaawansowanych badań strukturalnych w inżynierii materiałowej. Zastosowanie sieci odwrotnej i konstrukcji sfery Ewalda do metod dyfrakcyjnych. Wykorzystanie czynnika strukturalnego do badania przemian strukturalnych. Rentgenowska analiza fazowa. Precyzyjny pomiar parametru sieci i naprężeń. Mikroanaliza rentgenowska (faloworozdzielcza i energorozdzielcza). Dyfrakcja elektronów; badanie koherencji wydzieleń. Określanie wielkości krystalitów. Dyfrakcja na strukturach uporządkowanych (TEM). Mikroskopia elektronowa w badaniu warstw epitaksjalnych. Określanie stopnia niedopasowania warstw epitaksjalnych.
Metody oceny:
Zaliczenie wszystkich laboratoriów z pozytywną oceną
Egzamin:
nie
Literatura:
S. Jaźwiński, Instrumentalne metody badań materiałów, Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1988. Z. Bojarski, H. Habla, M. Surowiec, Materiały do nauki krystalografii, PWN, Warszawa 1986. Z. Bojarski, H. Habla, M. Surowiec, K. Stróż, Krystalografia, PWN, Warszawa 1996. L.A. Dobrzański, E. Hajduczek, Mikroskopia świetlna i elektronowa, PWN, Warszawa 1987. Z. Bojarski, E. Łągiewka, Rentgenowska analiza strukturalna, PWN, Warszawa 1988.
Witryna www przedmiotu:
-
Uwagi:
Laboratoria odbywają się z podziałem na grupy w salach laboratoryjnych oraz w pracowniach ze specjalistyczną aparaturą.

Efekty uczenia się