Nazwa przedmiotu:
Zaawansowane techniki mikroskopowe
Koordynator przedmiotu:
dr inż. Maciej Trusiak, dr Piotr Zdańkowski, dr inż. Wojciech Krauze
Status przedmiotu:
Fakultatywny dowolnego wyboru
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Wariantowe
Kod przedmiotu:
ZTM
Semestr nominalny:
2 / rok ak. 2020/2021
Liczba punktów ECTS:
1
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
1) Liczba godzin bezpośrednich 18, w tym: a) wykład - 15h; b) ćwiczenia - 0h; c) laboratorium - 0h; d) projekt - 0h; e) konsultacje - 3h; 2) Praca własna studenta 13, w tym: a) przygotowanie do kolokwium - 10h; b) przygotowanie do wykładów - 3h. Suma: 31 h (1 ECTS)
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
1 punkt ECTS - liczba godzin bezpośrednich: 18, w tym: a) wykład - 15h; b) ćwiczenia - 0h; c) laboratorium - 0h; d) projekt - 0h; e) konsultacje - 3h;
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
1) Liczba godzin bezpośrednich 18, w tym: a) wykład - 15h; b) ćwiczenia - 0h; c) laboratorium - 0h; d) projekt - 0h; e) konsultacje - 3h; 2) Praca własna studenta 13, w tym: a) przygotowanie do kolokwium - 10h; b) przygotowanie do wykładów - 3h. Suma: 31 h (1 ECTS)
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium0h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Kurs inżynierski matematyki i fizyki, kurs Podstaw Mikroskopii Optycznej
Limit liczby studentów:
30
Cel przedmiotu:
Zapoznanie się z zaawansowanymi technikami z zakresu mikroskopii optycznej oraz wybranymi metodami numerycznymi wykorzystywanymi do obrazowania obiektów w mikroskali.
Treści kształcenia:
Zakres wykładu (15h): Metody numeryczne w technikach mikroskopowych, bezsoczewkowe obrazowanie obliczeniowe, niekonwencjonalne metody mikroskopowe, Optyczna tomografia dyfrakcyjna, obrazowanie przez tkanki – rozpraszanie, aberracje, korekcja aberracji, ilościowe obrazowanie fazy Mikroskopia fluorescencyjna – mikroskopia superrozdzielcza, mikroskopia z oświetleniem strukturalnym, lokalizacyjna nanoskopia, mikroskopia nieliniowa, mikroskopia wielofotonowa.
Metody oceny:
Kolokwium (100%)
Egzamin:
nie
Literatura:
Mikroskopia optyczna, Maksymilian Pluta, PWN 1982 Tomasz Tkaczyk, Field guide to microscopy, SPIE Press 2010 Douglas Murphy, Michael Davidson, Fundamentals of light microscopy and electronic imaging, Wiley 2012 Artykuły naukowe udostępniane przez prowadzących.
Witryna www przedmiotu:
-
Uwagi:
brak

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Charakterystyka ZTM_2st_W01
Zna wybrane zaawansowane metody nowoczesnej mikroskopii optycznej.
Weryfikacja: Zaliczenie egzaminu
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_W06, K_W07, K_W13
Powiązane charakterystyki obszarowe: P7U_W, I.P7S_WG.o
Charakterystyka ZTM_2st_W02
Zna i rozumie ograniczenia zaawansowanych metod obrazowania obiektów w mikroskali i nanoskali
Weryfikacja: Zaliczenie egzaminu
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_W08
Powiązane charakterystyki obszarowe: P7U_W, I.P7S_WG.o, III.P7S_WG

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Charakterystyka ZTM_2st_U01
Umie korzystać z dostępnego oprogramowania do analizy obrazów mikroskopowych
Weryfikacja: Zaliczenie projektu
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_U01, K_U04, K_U05, K_U10
Powiązane charakterystyki obszarowe: P7U_U, I.P7S_UW.o, I.P7S_UK, I.P7S_UU, III.P7S_UW.o
Charakterystyka ZTM_2st_U02
Potrafi dobrać właściwą zaawansowaną metodę mikroskopii optycznej do charakterystyki analizowanego obiektu
Weryfikacja: Zaliczenie projektu
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_U15
Powiązane charakterystyki obszarowe: P7U_U, I.P7S_UW.o, III.P7S_UW.o

Profil ogólnoakademicki - kompetencje społeczne

Charakterystyka ZTM_2st_K01
Rozumie potrzebę ciągłego samorozwoju w obszarze metod obrazowania struktur biologicznych i technicznych z naciskiem na zwiększenie aplikacyjności
Weryfikacja: Zaliczenie projektu i egzaminu
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_K01
Powiązane charakterystyki obszarowe: P7U_K, I.P7S_KK